Размер шрифта
Цвет фона и шрифта
Изображения
Озвучивание текста
Обычная версия сайта
Синеркон
Синеркон
Качество под контролем
+7 (495) 640-19-71
+7 (495) 640-19-71
+7 (495) 640-91-83
+7 (495) 741-59-04
E-mail
zakaz@synercon.ru

Адрес
Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
Режим работы
Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
О компании
  • О компании
  • История
  • Новости
  • Реквизиты
Оборудование
  • Портативные РФА анализаторы
  • Оптико-эмиссионные спектрометры
    • Стационарные оптико-эмиссионные спектрометры
    • Мобильные оптико-эмиссионные спектрометры
  • Рентгенофлуоресцентные спектрометры
  • Напольные рентгеновские спектрометры
  • Рентгеновские дифрактометры
  • Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
  • Рентгеновские толщиномеры покрытий
  • Элементный анализ CS/ONH
  • Оптические микроскопы
    • Биологические микроскопы
    • Металлографические микроскопы
    • Стереомикроскопы
    • Измерительные микроскопы
    • Криминалистические микроскопы
    • Цифровые микроскопы
    • Геологические микроскопы
    • Инспекционные микроскопы
    • Портативные микроскопы
    • Конфокальные микроскопы
    • Программное обеспечение автоматизированного анализа
  • Электронные микроскопы
    • Настольные сканирующие электронные микроскопы
    • Пробоподготовка для электронной микроскопии
    • Атомно-силовой микроскоп BRISK
    • Сканирующие электронные микроскопы KYKY
  • Пробоподготовка для спектрального анализа
  • Испытательные машины
    • Электромеханические испытательные машины
    • Гидравлические испытательные машины
    • Сервогидравлические испытательные машины
    • Маятниковые копры
    • Экстензометры
    • Машины для испытаний эластомеров
    • Высокочастотные резонансные испытательные машины
    • Машины для испытания пружин
    • Оснастка
  • Твердомеры
    • Твердомеры Виккерса
    • Микротвердомеры Виккерса и Кнупа
    • Твердомеры Бринелля
    • Твердомеры Роквелла и Супер-Роквелла
    • Универсальные твердомеры
    • Твердомеры для крупногабаритных изделий
  • Металлография
    • Отрезные станки
    • Шлифовально-полировальные станки
    • Металлографические пресса
    • Оборудование для электролитического полирования и травления
    • Оборудование для петрографии
    • Оборудование для подготовки образцов для спектрального анализа
  • Расходные материалы для пробоподготовки
    • Резка
    • Запрессовка
    • Шлифование
    • Полировка
    • Системы фиксации
Сервис
  • Обслуживание оборудования
    • Пусконаладочные работы
  • Обучение и поддержка
    • Обучение после внедрения оборудования
Демозал
Наши клиенты
  • Промышленность
Бренды
Контакты
0
Синеркон
+7 (495) 640-19-71
+7 (495) 640-19-71
+7 (495) 640-91-83
+7 (495) 741-59-04
E-mail
zakaz@synercon.ru

Адрес
Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
Режим работы
Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
0 Сравнение
О компании
  • О компании
  • История
  • Новости
  • Реквизиты
Оборудование
Посетите демонстрационный зал в Москве
Посетите демонстрационный зал в Москве
14 января 2025
Демонстрация оборудования на вашем объекте в реальных условиях
Демонстрация оборудования на вашем объекте в реальных условиях
16 января 2025
  • Портативные РФА анализаторы
    Портативные РФА анализаторы
  • Оптико-эмиссионные спектрометры
    Оптико-эмиссионные спектрометры
    • Стационарные оптико-эмиссионные спектрометры
    • Мобильные оптико-эмиссионные спектрометры
  • Рентгенофлуоресцентные спектрометры
    Рентгенофлуоресцентные спектрометры
  • Напольные рентгеновские спектрометры
    Напольные рентгеновские спектрометры
  • Рентгеновские дифрактометры
    Рентгеновские дифрактометры
  • Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
    Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
  • Рентгеновские толщиномеры покрытий
    Рентгеновские толщиномеры покрытий
  • Элементный анализ CS/ONH
    Элементный анализ CS/ONH
  • Оптические микроскопы
    Оптические микроскопы
    • Биологические микроскопы
    • Металлографические микроскопы
    • Стереомикроскопы
    • Измерительные микроскопы
    • Криминалистические микроскопы
    • Цифровые микроскопы
    • Геологические микроскопы
    • Инспекционные микроскопы
    • Портативные микроскопы
    • Конфокальные микроскопы
    • Программное обеспечение автоматизированного анализа
    • Еще
  • Электронные микроскопы
    Электронные микроскопы
    • Настольные сканирующие электронные микроскопы
    • Пробоподготовка для электронной микроскопии
    • Атомно-силовой микроскоп BRISK
    • Сканирующие электронные микроскопы KYKY
  • Пробоподготовка для спектрального анализа
    Пробоподготовка для спектрального анализа
  • Испытательные машины
    Испытательные машины
    • Электромеханические испытательные машины
    • Гидравлические испытательные машины
    • Сервогидравлические испытательные машины
    • Маятниковые копры
    • Экстензометры
    • Машины для испытаний эластомеров
    • Высокочастотные резонансные испытательные машины
    • Машины для испытания пружин
    • Оснастка
  • Твердомеры
    Твердомеры
    • Твердомеры Виккерса
    • Микротвердомеры Виккерса и Кнупа
    • Твердомеры Бринелля
    • Твердомеры Роквелла и Супер-Роквелла
    • Универсальные твердомеры
    • Твердомеры для крупногабаритных изделий
  • Металлография
    Металлография
    • Отрезные станки
    • Шлифовально-полировальные станки
    • Металлографические пресса
    • Оборудование для электролитического полирования и травления
    • Оборудование для петрографии
    • Оборудование для подготовки образцов для спектрального анализа
  • Расходные материалы для пробоподготовки
    Расходные материалы для пробоподготовки
    • Резка
    • Запрессовка
    • Шлифование
    • Полировка
    • Системы фиксации
Сервис
  • Обслуживание оборудования
    Обслуживание оборудования
    • Пусконаладочные работы
  • Обучение и поддержка
    Обучение и поддержка
    • Обучение после внедрения оборудования
Демозал
Наши клиенты
  • Промышленность
Бренды
Контакты
    Синеркон
    О компании
    • О компании
    • История
    • Новости
    • Реквизиты
    Оборудование
    Посетите демонстрационный зал в Москве
    Посетите демонстрационный зал в Москве
    14 января 2025
    Демонстрация оборудования на вашем объекте в реальных условиях
    Демонстрация оборудования на вашем объекте в реальных условиях
    16 января 2025
    • Портативные РФА анализаторы
      Портативные РФА анализаторы
    • Оптико-эмиссионные спектрометры
      Оптико-эмиссионные спектрометры
      • Стационарные оптико-эмиссионные спектрометры
      • Мобильные оптико-эмиссионные спектрометры
    • Рентгенофлуоресцентные спектрометры
      Рентгенофлуоресцентные спектрометры
    • Напольные рентгеновские спектрометры
      Напольные рентгеновские спектрометры
    • Рентгеновские дифрактометры
      Рентгеновские дифрактометры
    • Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
      Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
    • Рентгеновские толщиномеры покрытий
      Рентгеновские толщиномеры покрытий
    • Элементный анализ CS/ONH
      Элементный анализ CS/ONH
    • Оптические микроскопы
      Оптические микроскопы
      • Биологические микроскопы
      • Металлографические микроскопы
      • Стереомикроскопы
      • Измерительные микроскопы
      • Криминалистические микроскопы
      • Цифровые микроскопы
      • Геологические микроскопы
      • Инспекционные микроскопы
      • Портативные микроскопы
      • Конфокальные микроскопы
      • Программное обеспечение автоматизированного анализа
      • Еще
    • Электронные микроскопы
      Электронные микроскопы
      • Настольные сканирующие электронные микроскопы
      • Пробоподготовка для электронной микроскопии
      • Атомно-силовой микроскоп BRISK
      • Сканирующие электронные микроскопы KYKY
    • Пробоподготовка для спектрального анализа
      Пробоподготовка для спектрального анализа
    • Испытательные машины
      Испытательные машины
      • Электромеханические испытательные машины
      • Гидравлические испытательные машины
      • Сервогидравлические испытательные машины
      • Маятниковые копры
      • Экстензометры
      • Машины для испытаний эластомеров
      • Высокочастотные резонансные испытательные машины
      • Машины для испытания пружин
      • Оснастка
    • Твердомеры
      Твердомеры
      • Твердомеры Виккерса
      • Микротвердомеры Виккерса и Кнупа
      • Твердомеры Бринелля
      • Твердомеры Роквелла и Супер-Роквелла
      • Универсальные твердомеры
      • Твердомеры для крупногабаритных изделий
    • Металлография
      Металлография
      • Отрезные станки
      • Шлифовально-полировальные станки
      • Металлографические пресса
      • Оборудование для электролитического полирования и травления
      • Оборудование для петрографии
      • Оборудование для подготовки образцов для спектрального анализа
    • Расходные материалы для пробоподготовки
      Расходные материалы для пробоподготовки
      • Резка
      • Запрессовка
      • Шлифование
      • Полировка
      • Системы фиксации
    Сервис
    • Обслуживание оборудования
      Обслуживание оборудования
      • Пусконаладочные работы
    • Обучение и поддержка
      Обучение и поддержка
      • Обучение после внедрения оборудования
    Демозал
    Наши клиенты
    • Промышленность
    Бренды
    Контакты
      +7 (495) 640-19-71
      +7 (495) 640-91-83
      +7 (495) 741-59-04
      E-mail
      zakaz@synercon.ru

      Адрес
      Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
      Режим работы
      Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
      0
      Синеркон
      Телефоны
      +7 (495) 640-19-71
      +7 (495) 640-91-83
      +7 (495) 741-59-04
      E-mail
      zakaz@synercon.ru

      Адрес
      Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
      Режим работы
      Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
      0
      Синеркон
      • О компании
        • О компании
        • О компании
        • История
        • Новости
        • Реквизиты
      • Оборудование
        • Оборудование
        • Портативные РФА анализаторы
        • Оптико-эмиссионные спектрометры
          • Оптико-эмиссионные спектрометры
          • Стационарные оптико-эмиссионные спектрометры
          • Мобильные оптико-эмиссионные спектрометры
        • Рентгенофлуоресцентные спектрометры
        • Напольные рентгеновские спектрометры
        • Рентгеновские дифрактометры
        • Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
        • Рентгеновские толщиномеры покрытий
        • Элементный анализ CS/ONH
        • Оптические микроскопы
          • Оптические микроскопы
          • Биологические микроскопы
          • Металлографические микроскопы
          • Стереомикроскопы
          • Измерительные микроскопы
          • Криминалистические микроскопы
          • Цифровые микроскопы
          • Геологические микроскопы
          • Инспекционные микроскопы
          • Портативные микроскопы
          • Конфокальные микроскопы
          • Программное обеспечение автоматизированного анализа
        • Электронные микроскопы
          • Электронные микроскопы
          • Настольные сканирующие электронные микроскопы
          • Пробоподготовка для электронной микроскопии
          • Атомно-силовой микроскоп BRISK
          • Сканирующие электронные микроскопы KYKY
        • Пробоподготовка для спектрального анализа
        • Испытательные машины
          • Испытательные машины
          • Электромеханические испытательные машины
          • Гидравлические испытательные машины
          • Сервогидравлические испытательные машины
          • Маятниковые копры
          • Экстензометры
          • Машины для испытаний эластомеров
          • Высокочастотные резонансные испытательные машины
          • Машины для испытания пружин
          • Оснастка
        • Твердомеры
          • Твердомеры
          • Твердомеры Виккерса
          • Микротвердомеры Виккерса и Кнупа
          • Твердомеры Бринелля
          • Твердомеры Роквелла и Супер-Роквелла
          • Универсальные твердомеры
          • Твердомеры для крупногабаритных изделий
        • Металлография
          • Металлография
          • Отрезные станки
          • Шлифовально-полировальные станки
          • Металлографические пресса
          • Оборудование для электролитического полирования и травления
          • Оборудование для петрографии
          • Оборудование для подготовки образцов для спектрального анализа
        • Расходные материалы для пробоподготовки
          • Расходные материалы для пробоподготовки
          • Резка
          • Запрессовка
          • Шлифование
          • Полировка
          • Системы фиксации
      • Сервис
        • Сервис
        • Обслуживание оборудования
          • Обслуживание оборудования
          • Пусконаладочные работы
        • Обучение и поддержка
          • Обучение и поддержка
          • Обучение после внедрения оборудования
      • Демозал
      • Наши клиенты
        • Наши клиенты
        • Промышленность
      • Бренды
      • Контакты
      • 0 Сравнение
      • +7 (495) 640-19-71
        • Телефоны
        • +7 (495) 640-19-71
        • +7 (495) 640-91-83
        • +7 (495) 741-59-04
      • Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
      • zakaz@synercon.ru

      • Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00

      Фильерные инспекционные микроскопы

      Главная
      —
      Статьи
      —
      Применение оборудования
      —Фильерные инспекционные микроскопы
      Фильерные инспекционные микроскопы
      Применение оборудования
      13 марта 2020

      Высокая механическая стабильность инспекционных микроскопов UHL обеспечивает высокое качество контроля и качество продукции в течение длительного времени.


      Фильерные инспекционные микроскопы


      Инспекционный микроскоп PR7 Manual, полу автоматический или полностью автоматический инспекционный микроскоп

      * высокая механическая стабильность для длительного контроля

      * превосходное оптическое качество изображения для работы при усталостной нагрузке оператора

      * полуавтоматический или полностью автоматический контроль в сочетании с моторизованными осями повышает эффективность и уменьшает влияние оператора.

      * используя компонентную систему UHL, инспекционные микроскопы можно легко настроить и обеспечить упрощенное обслуживание.

      * инспекционные микроскопы PM4, PR5, PR7 и PR8 обеспечивают прямой, альтернативный вид капилляра и цилиндрическое зенкерование без перемещения фильеры.

      Высокая механическая стабильность инспекционных микроскопов UHL обеспечивает высокое качество контроля и качество продукции в течение длительного времени.

      Отличное оптическое изображение отвечает за монотонные условия работы. Предлагаются различные объективы с фиксированным увеличением и высокой точностью для контроля загрязнений.

      Полуавтоматические и полностью автоматический контроль с помощью программного обеспечения IMS-SpinLight или IMS-Spin в сочетании с моторизованными осями, повышают эффективность и уменьшают влияние оператора.

      Микроскопы для контроля фильеры UHL основаны на модульной системе, которая должна быть гибкой для клиента. Инспекционные микроскопы PM4, PR5 и PR7 имеют уникальную функцию для проверки капилляров и зенковки, одновременно или альтернативно, не касаясь и не перемещая фильеру.

      В зенкованном щупе используется специальная оптика со встроенной кольцевой подсветкой в ​​объективе.

      Все микроскопы спроектированы, изготовлены и собраны компанией UHL в Ассларе (Германия). Программное обеспечение полностью разработан UHL.

      Для полуавтоматической проверки фильер программное обеспечение IMS-SpinLight можно комбинировать со всеми моторизованные контрольными микроскопами UHL (IMS означает интерактивное измерительное программное обеспечение).

      Программное обеспечение перемещает к отверстию за отверстием фильеры и показывает капилляр на экране. Оператор может остановить процесс с помощью ножного переключателя. Очистите отверстие непосредственно с помощью управления живым изображением.

      1.png

      Легкое и простое использование, старт с графического интерфейса для выбора функций.

      Графический пользовательский интерфейс для выбора функции.

      2.png

      Система координат объекта для фиксации нескольких фильер в пластине держателя на X / Y столе. Это позволяет повторить воспроизодимость результатов позиционирование позиций отверстий.

      3.png

      Полностью автоматическая проверка фильеры может быть выполнена с помощью программного обеспечения IMS-Spin в сочетании со всеми UHL инспекционными микроскопами (IMS означает программное обеспечение для интерактивных измерений).

      Фильер перемещается к отверстию к отверстию в режиме живого изображения и автоматическое обнаружение загрязнений выполняется измерение капиллярной поверхности и дополнительных геометрических параметров.

      В случае загрязнения отверстия его можно очистить непосредственно с помощью дополнительной станции продувки сжатым воздухом.

      После очистки капилляр проверяется снова.

      IMS-Spin использует тот же учебник для определений геометрии фильеры, что и IMS-SpinLight.

      4.png

      Время измерения геометрии для различных геометрий капилляров:

      Круглые отверстия 1-2 сек.

      трилобал 3-4 сек.

      восьмеричное 5-6 сек. (на капилляр)

      инспекция, время осмотра: ок. 0,5 сек

      5.png




       


      6.png

       

      IMS-Spin имеет возможность назначить несколько фильер на измерительном столе для проверки в один ход без каких-либо действий оператора во время осмотра. Каждая фильера может быть назначена для определенной позиции на держателе пластины путем перетаскивания на чертеже держателя фильер.

      Каждая фильера имеет уникальный номер для хранения всех доступных проверочных данных измерений в истории.

      7.png

      История проверок всех фильер показана в виде таблицы. Результаты

      могут быть отфильтрованы и отсортированы на усмотрение контролера.

      8.png

       

      Используя историю геометрии, можно получить детальный анализ деформации и износа для каждый капилляра.

      Результаты измерений для оценки: диаметр, мин. радиус, макс. радиус, площадь,периметр, профиль, 3х трилобальный радиус, 3х трилобальная ширина, 3х трилобалендрадиус

      9.png

      После завершения контрольного прогона результаты отображаются с помощью простого в использовании модуля оценки в несколько строк и круговые диаграммы, или как текстовый протокол.

      Круговая диаграмма хорошей / плохой оценки для быстрого обзора.

      10.png

      Вид расположения отверстий (хорошо – серый плохо - чёрный) с прямым обзором капилляр и результаты измерений.

      11.png


      Вид расположения отверстий (хорошо – серый плохо - чёрный) с прямым обзором
      капилляр и результаты измерений

      Точность с объективом 10: 1 (0,7 х 0,4 мм поле зрения) составляет 1 мкм

      Системная конфигурация инспекционных микроскопов UHL:

      Промышленный ПК в стойке, система визуализации на платформе Windows® с плоским экраном TFT, управление двигателем с помощью джойстика, цвет высокого разрешения и / или монохромные камеры.

      12.png

      Новое разработанное программное обеспечение IMS-SpinScan предназначено для инспекционных микроскопов со сканирующей оптикой.

      Фильера может быть помещена только предварительно выровненным в держателе с одним или несколькими положениями.

      Несколько капилляров обнаруживаются в поле зрения сразу во время быстрого сканирования всех фильер с низким увеличением.

      После сканирования фильеры уже предварительно проверены на предмет блокировки, и положения отверстий автоматически определяется. Теперь можно начать проверку с большим увеличением и точностью.

      Параметры осмотра уменьшены только до нескольких значений, таких как грязь размер во время осмотра или допуск положения во время сканирования. Обнаружение грязи определяет только между круглой и формой поперечное сечение капилляров. Шаблон создается автоматически создается после обнаружения края при первом осмотре.

      13.png

      После сканирования или осмотра на графической панели держателя отображается предварительный просмотр, если обнаружены заблокированные или грязные капилляры (красные или зеленые).

      14.png

      Двойной щелчок на графике в нужной позиции открывает вид результата с цветным отображением капилляров. Он может быть перемещен в отдельные капилляры щелчком мыши, или все капилляры могут быть очищены вручную в пошаговом режиме. 15.png16.png

      Все результаты проверки приведены в таблице.

      Линейный график показывает распределение значений. Статистический значения (минимальное, максимальное, среднее, стандартное отклонение) приведены в таблице строка состояния для анализа данных.

      Все результаты проверки приведены в таблице.

      После выбора линейный график показывает распределение значений. Статистический значения (минимальное, максимальное, среднее, стандартное отклонение) приведены в таблице строка состояния для анализа данных.

      17.png

      Отчет с круговой диаграммой и спиннерет-графикой может быть сгенерирован и напечатанный. Результаты могут быть сохранены.

      18.png

      19.png

      Для хранения изображений используется новое программное обеспечение VMS-Z для инспекционных микроскопов с USB видеокамерой автоматически в последовательности во время фокусировки.

      Фокусировка производится вручную (микроскопы с ручной осью z), с помощью джойстика или обучаемого диапазона сканирования (микроскопы с моторизованной z-осью).

      Положения Z извлекаются из контроллера движения или цифрового отсчета. Также можно определить фиксированный шаг между изображениями.

      После того, как изображения сохранены, они могут быть объединены в сложенное изображение. Резкие области каждого изображения являются определяется в пределах определяемого размера блока и порога резкости, так что все фокальная плоскость объединяются в изображение и 3D-модель. Поперечное сечение может быть применено к 3D-модели для измерения высоты и угла наклона.

      3D-изображение можно масштабировать и поворачивать свободно.

      Применяется для создания (3D) изображения цековки фильеры для визуализации и документирования (в микроскоп должен быть оснащен нашим специальным оптическим датчиком и подсветкой).

      Последовательность также может быть удобно просмотрена изображение за изображением.

      20.png

          

      Назад к списку
      • Применение оборудования 14
      Компания
      О компании
      История
      Новости
      Реквизиты
      Каталог
      Портативные РФА анализаторы
      Оптико-эмиссионные спектрометры
      Рентгенофлуоресцентные спектрометры
      Напольные рентгеновские спектрометры
      Рентгеновские дифрактометры
      Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
      Рентгеновские толщиномеры покрытий
      Элементный анализ CS/ONH
      Оптические микроскопы
      Электронные микроскопы
      Пробоподготовка для спектрального анализа
      Испытательные машины
      Твердомеры
      Металлография
      Расходные материалы для пробоподготовки
      Услуги
      Обслуживание оборудования
      Обучение и поддержка
      Статьи
      Бренды
      Контакты
      +7 (495) 640-19-71
      +7 (495) 640-19-71
      +7 (495) 640-91-83
      +7 (495) 741-59-04
      E-mail
      zakaz@synercon.ru

      Адрес
      Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
      Режим работы
      Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
      zakaz@synercon.ru

      Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
      © 2026 Синеркон: Качество под контролем.
      Политика конфиденциальности