Атомно-силовой микроскоп BRISK

Идеально подходит для исследований в области технологии наноструктур. Помимо визуализации топографии поверхности способен определять различные свойства образца в нанометровом масштабе, выполнять функцию наноманипулятора, проводить нанолитографию.

Описание

Атомно-силовая микроскопия (АСМ) отличается своей универсальностью и сравнительно невысокой стоимостью, что делает ее одним из основных инструментов для исследований в области технологии наноструктур.

Особенности

Упрощенная процедура визуализации - простота управления и снижение времени, требуемого на накопление изображения, делают BRISK очень удобным для пользователей
Оптическая навигация с высоким увеличением - выбор участка сканирования осуществляется с помощью имеющейся на приборе оптической навигационной системы
Новое поколение электроники - использование передовой электроники улучшило работу контроллера
Быстрый подвод зонда к образцу - экономия времени на подвод зонда к образцу за счет использования быстрой процедуры является замечательной особенностью BRISK
Продуманная процедура замены зонда - имеется возможность надежно зафиксировать зонд в измерительной АСМ-головке в кратчайшее время
Совместимость с различными типами компьютеров - могут использоваться персональные компьютеры, ноутбуки, моноблоки
Интерфейс LAN - все данные между микроскопом и компьютером передаются по единому сетевому кабелю
Фантастический дизайн и компактность - прибор занимает мало места в лаборатории и его современный внешний вид привлекает пользователей

Дополнительные характеристики

Сканер	XY Сканер Максимальный диапазон сканирования в плоскости XY: 50 мкм Разрешение в плоскости XY: 1 нм Z Сканер Максимальный диапазон сканирования по оси Z: 4 мкм Разрешение по оси Z: 0,1 нм
Столик образцов	Диапазон перемещений в плоскости XY: 15 мм Шаг перемещения в плоскости XY: 40 нм Диапазон перемещения по оси Z: 15 мм Шаг перемещения по оси Z: 40 нм Функция автоматического подвода кантилевера к поверхности образца (Auto Fast Approach)
Крепление образца	Максимальный диаметр образца: 20 мм Максимальная толщина образца: 10 мм Имеется лёгкий магнитный держатель образца Возможность подачи напряжения на образец в диапазоне от -10 В до + 10 В
Оптическая система навигации	Цветное изображение, разрешение 8 Мп Увеличение от 60 крат до 600 крат Встроенная подсветка с регулятором
Измерительная головка	Высокоточный регулируемый микрометр Длина волны лазера: 670 нм Максимальная мощность лазерного диода: 5 мВт 4-х секционный фотодиод высокого качества Функция дизеринга Оптимизированная оптическая схема
Электроника	АЦП и ЦАП каналы 4-х канальный АЦП 24 бит 4-х канальный ЦАП 24 бит Обработка сигналов Zynq-процессор 40 МГц Встроенные функции 100 МБит/с по LAN
Программное обеспечение	Получение изображений 100 Мбит/с в режиме реального времени, совместимость с Windows Встроенные оптические смотровые окна для обзора образца и кантилевера Автоматическое сохранение полученных изображений в галерее программного обеспечения Сканирование выделенной области уже собранного изображения Работа с изображениями Отдельная программа для обработки изображений, анализа и представления данных Возможность экспорта различных данных с полученных изображений Совместимость с ОС Windows
Габариты и вес АСМ-модуля	300 мм х 400 мм x 300 мм, 20 кг
Опции	XY Сканер Расширенный диапазон сканирования 100 um Набор для замены зондов Вакуумный пинцет
Стандартные режимы	Контактный Бесконтактный Динамический полуконтактный (Tapping)
Дополнительные функциональные комплекты	Fly Kit - Магнитно-силовая микроскопия (MFM) Pro Contact Kit - Метод латеральных сил (LFM) Experts Kit - Химическая нанолитография

Задать вопрос