Дифрактометр отличает компактная конструкция со встроенной в корпус прибора системой охлаждения, накопления и циркуляции воды, что значительно экономит место в лаборатории и делает прибор удобным в повседневной эксплуатации. Для установки понадобится только обычный лабораторный стол и розетка на 220 Вольт. Дифрактометр может оснащаться рентгеновскими трубками с различными анодами и различными типами современных детекторов. Устойчивый к вибрациям гониометр и встроенные щели Соллера делают прибор надежным не только в повседневной эксплуатации, но и дает возможность транспортировки. Программное обеспечение CrystalX автоматически выполняет фазовый анализ и выдает процентное содержание каждого компонента в фазе, что значительно снижает требования к пользователям. Нет необходимости в ручном поиске, вычитании фона, сглаживании или ручном поиске пиков. Просто нажмите «Начать тест» и предоставьте остальное программному обеспечению CrystalX.

Настольный дифрактометр FRINGE может выполнять идентификацию фаз, анализ кристаллической структуры, анализ остаточных напряжений, анализ текстуры и другие функции на образцах в различных формах, таких как порошки, пленки, куски, жидкости и т. д., что помогает решить различные задачи в промышленности и в области научных исследований.

Основные преимущества:

• вертикальный Theta/Theta-гониометр в диапазоне углов от -3° до +150°;
• генератор мощностью до 1,2 кВт и рентгеновская трубка мощностью 2200 Вт (в зависимости от модификации);
• возможность установки высокотемпературных или низкотемпературных камер, контроллера влажности и других аксессуаров;
• безопасное исполнение с полной радиационной безопасностью — специальная подъемная дверь для широкого обзора без слепых зон с защитой от проникновения рентгеновского излучения, блокировочным устройством и автоматикой отключения, облачное хранилище в мобильном приложении с данными баз и знаний;
• возможно оснащение высокоэффективным и самым современным детектором Xeye2D, который еще никогда не применялся в настольных системах. Такой детектор позволяет проводить бесшовное переключения между нульмерным, одномерным и двумерным режимами и показывать чрезвычайно высокое качество дифракции. Например, в двумерном режиме можно одновременно наблюдать кольца Дебая, тем самым обеспечивая более полное представление об условиях роста внутри кристалла.