Размер шрифта
Цвет фона и шрифта
Изображения
Озвучивание текста
Обычная версия сайта
Синеркон
Синеркон
Качество под контролем
+7 (495) 640-19-71
+7 (495) 640-19-71
+7 (495) 640-91-83
+7 (495) 741-59-04
E-mail
zakaz@synercon.ru

Адрес
Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
Режим работы
Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
О компании
  • О компании
  • История
  • Новости
  • Реквизиты
Оборудование
  • Портативные РФА анализаторы
  • Оптико-эмиссионные спектрометры
  • Рентгенофлуоресцентные спектрометры
  • Напольные рентгеновские спектрометры
  • Рентгеновские дифрактометры
  • Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
  • Рентгеновские толщиномеры покрытий
  • Элементный анализ CS/ONH
  • Оптические микроскопы
  • Электронные микроскопы
  • Пробоподготовка для спектрального анализа
  • Испытательные машины
  • Твердомеры
  • Металлография
  • Расходные материалы для пробоподготовки
Сервис
  • Обслуживание оборудования
    • Пусконаладочные работы
    • Обучение после внедрения оборудования
Демозал
Наши клиенты
  • Промышленность
Бренды
Контакты
0
Синеркон
+7 (495) 640-19-71
+7 (495) 640-19-71
+7 (495) 640-91-83
+7 (495) 741-59-04
E-mail
zakaz@synercon.ru

Адрес
Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
Режим работы
Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
0 Сравнение
О компании
  • О компании
  • История
  • Новости
  • Реквизиты
Оборудование
Посетите демонстрационный зал в Москве
Посетите демонстрационный зал в Москве
  • Портативные РФА анализаторы
    Портативные РФА анализаторы
  • Оптико-эмиссионные спектрометры
    Оптико-эмиссионные спектрометры
  • Рентгенофлуоресцентные спектрометры
    Рентгенофлуоресцентные спектрометры
  • Напольные рентгеновские спектрометры
    Напольные рентгеновские спектрометры
  • Рентгеновские дифрактометры
    Рентгеновские дифрактометры
  • Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
    Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
  • Рентгеновские толщиномеры покрытий
    Рентгеновские толщиномеры покрытий
  • Элементный анализ CS/ONH
    Элементный анализ CS/ONH
  • Оптические микроскопы
    Оптические микроскопы
  • Электронные микроскопы
    Электронные микроскопы
  • Пробоподготовка для спектрального анализа
    Пробоподготовка для спектрального анализа
  • Испытательные машины
    Испытательные машины
  • Твердомеры
    Твердомеры
  • Металлография
    Металлография
  • Расходные материалы для пробоподготовки
    Расходные материалы для пробоподготовки
Сервис
  • Обслуживание оборудования
    Обслуживание оборудования
Демозал
Наши клиенты
  • Промышленность
Бренды
Контакты
    Синеркон
    О компании
    • О компании
    • История
    • Новости
    • Реквизиты
    Оборудование
    Посетите демонстрационный зал в Москве
    Посетите демонстрационный зал в Москве
    • Портативные РФА анализаторы
      Портативные РФА анализаторы
    • Оптико-эмиссионные спектрометры
      Оптико-эмиссионные спектрометры
    • Рентгенофлуоресцентные спектрометры
      Рентгенофлуоресцентные спектрометры
    • Напольные рентгеновские спектрометры
      Напольные рентгеновские спектрометры
    • Рентгеновские дифрактометры
      Рентгеновские дифрактометры
    • Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
      Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
    • Рентгеновские толщиномеры покрытий
      Рентгеновские толщиномеры покрытий
    • Элементный анализ CS/ONH
      Элементный анализ CS/ONH
    • Оптические микроскопы
      Оптические микроскопы
    • Электронные микроскопы
      Электронные микроскопы
    • Пробоподготовка для спектрального анализа
      Пробоподготовка для спектрального анализа
    • Испытательные машины
      Испытательные машины
    • Твердомеры
      Твердомеры
    • Металлография
      Металлография
    • Расходные материалы для пробоподготовки
      Расходные материалы для пробоподготовки
    Сервис
    • Обслуживание оборудования
      Обслуживание оборудования
    Демозал
    Наши клиенты
    • Промышленность
    Бренды
    Контакты
      +7 (495) 640-19-71
      +7 (495) 640-91-83
      +7 (495) 741-59-04
      E-mail
      zakaz@synercon.ru

      Адрес
      Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
      Режим работы
      Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
      0
      Синеркон
      Телефоны
      +7 (495) 640-19-71
      +7 (495) 640-91-83
      +7 (495) 741-59-04
      E-mail
      zakaz@synercon.ru

      Адрес
      Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
      Режим работы
      Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
      0
      Синеркон
      • О компании
        • О компании
        • О компании
        • История
        • Новости
        • Реквизиты
      • Оборудование
        • Оборудование
        • Портативные РФА анализаторы
        • Оптико-эмиссионные спектрометры
        • Рентгенофлуоресцентные спектрометры
        • Напольные рентгеновские спектрометры
        • Рентгеновские дифрактометры
        • Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
        • Рентгеновские толщиномеры покрытий
        • Элементный анализ CS/ONH
        • Оптические микроскопы
        • Электронные микроскопы
        • Пробоподготовка для спектрального анализа
        • Испытательные машины
        • Твердомеры
        • Металлография
        • Расходные материалы для пробоподготовки
      • Сервис
        • Сервис
        • Обслуживание оборудования
          • Обслуживание оборудования
          • Пусконаладочные работы
          • Обучение после внедрения оборудования
      • Демозал
      • Наши клиенты
        • Наши клиенты
        • Промышленность
      • Бренды
      • Контакты
      • 0 Сравнение
      • +7 (495) 640-19-71
        • Телефоны
        • +7 (495) 640-19-71
        • +7 (495) 640-91-83
        • +7 (495) 741-59-04
      • Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
      • zakaz@synercon.ru

      • Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00

      Анализ железной руды

      Главная
      —
      Статьи
      —
      Анализ металлов и сплавов
      Применение оборудования
      ФХМА
      Микроскопия
      Электронная микроскопия
      Российские ГОСТы и нормы
      Международные стандарты и нормы
      —Анализ железной руды
      Анализ металлов и сплавов
      Оперативный и точный анализ химического состава железной руды анализатором X-MET 7500.

      Анализ железной руды портативным анализатором X-MET 7500

      Железная руда является одним из важнейших и часто разрабатываемых полезных ископаемых, 98% потребления которого приходится на производство стали. Руду добывают и перерабатывают по всему миру, однако крупнейшие ее производители - Китай, Австралия, Бразилия, Индия и Россия, Будучи одним из самых распространенных элементов земной коры (5%), технически чистое железо в природе, тем не менее, практически не встречается, В основном, оно присутствует в виде соединений с энергоемкими и неэкономичными силикатами и карбонатами, Основными рудными источниками железа являются магнетит (Fe3O4) и гематит (Fe2O3), концентрация металла в которых варьируется от 25% до 65% и более.

      При этом сопутствующие ему легкие элементы в следовых концентрациях (алюминий (Al), кремний (Si), фосфор (P) и сера (S)) играют важную роль как в обогащении (плавке) руды, так и в определении назначения готового продукта (железа и стали). Их влияние, в зависимости концентрации и назначения материала, может быть как положительным, так и отрицательным. В последнем случае они называются нежелательными примесями. Именно поэтому при определении химического состава железной руды содержанию Al, Si, P и S уделяется самое пристальное внимание.

      Анализ железной руды X-MET 7500

      Портативный рентгено-флуоресцентный анализатор предназначен для оперативного контроля химического состава железной руды и рассеянных в ней элементов. Он незаменим в полевых условиях, когда решения должны приниматься быстро, а времени на дорогостоящие лабораторные испытания нет. Прибор не только анализирует любые исходные материалы от породных образцов и кернов до шламов и порошковых смесей, но и позволяет быстро и качественно проводить проверку экологической обстановки.

      X-MET7500 - высокоточное и безотказное средство анализа железной руды и рассеянных в ней элементов. Сочетание высокотехнологичного кремниевого дрейфового детектора (SDD) высокого разрешения производства компании Oxford Instruments и миниатюрной рентгеновской трубки 45 кВ с универсальной аналитической программой по методу функциональных параметров (ФП) позволяет использовать прибор как с дополнительной точной регулировкой, так и без нее. Для анализа таких следовых элементов как сера и фосфор рекомендуется применять специализированные эмпирические аналитические программы.

      X-MET 7500 не подведет в самых суровых условиях - его конструкция имеет класс защиты IP 54 (аналог NEMA 3), а штатные литий-ионные аккумуляторы поддерживают работу в течение 10-12 часов. Прибор отличают устойчивость измерений и отсутствие необходимости в прерывании рабочей смены на повторную калибровку или охлаждение детектора.

      Подготовка образцов

      Подготовка образцов не требует особых усилий: керн и скальные породы анализируются в природном состоянии. При этом для получения наиболее достоверных результатов рекомендуется применять функцию усреднения данных замеров. Наивысшая же точность достигается при кюветном анализе образцов, перемолотых в мелкодисперсный порошок. Порошки и шламы анализируются как без пробоотбора, так и в кюветах либо мешках для образцов.

      При контроле легких элементов (Al, Si, P и S) важным условием является наличие тонкой подложки, для чего применяется полипропиленовая пленка толщиной 4 мкм. Так как основным условием при анализе шламов и порошков является чистота защитного окна, рекомендуется регулярно проверять его состояние, при необходимости очищая мягкой щеткой.

      Наивысшая точность достигается на образцах, прошедших дробление, мелкодисперсный помол и усреднение с последующей сушкой. Перед началом анализа полученный порошок гранулируется либо наносится на тонкую подложку и помещается в кювету. Подобные операции при проведении входного контроля не требуются, однако следует помнить, что точность результатов измерений напрямую связана с качеством пробоподготовки.

      Для сокращения рассеянного излучения при анализе материалов в кюветах или мешках следует работать с легким переносным стендом с защитным экраном (входит в комплект поставки) либо на стационарном лабораторном стенде (приобретается дополнительно). Последний особенно полезен при обработке большого количества кювет или мешков с образцами. Для защиты от рассеянного рентгеновского излучения в полевых условиях предусмотрен защитный экран.

      Метрологические характеристики

      Получаемые с помощью X-MET 7500 результаты анализа железа и рассеянных в руде элементов характеризуются высокой точностью и повторяемостью на штатных программах и не требуют дополнительной калибровки.

      Для максимальной точности контроля малых концентраций рекомендуется применение специализированных аналитических программ.

      Вывод

      Анализатор X-MET 7500 способен работать в самых суровых условиях (класс защиты IP54). Сочетание высокотехнологичного кремниевого дрейфового детектора (SDD) высокого разрешения производства компании Oxford Instruments и миниатюрной рентгеновской трубки 45 кВ позволяют получать превосходные показатели точности и повторяемости результатов, обеспечивая оперативность и экономичность полевого контроля железной руды.

      Прибор интуитивно прост в управлении, чему способствует простой графический интерфейс с пиктограммами. Объем встроенной памяти позволяет хранить до 100 000 результатов измерений и спектров, а широкие возможности обмена данными включают передачу по протоколу USB, беспроводным сетям или сохранение на флеш-накопитель. Настраиваемые формы аналитических отчетов сохраняются в защищенном формате PDF либо редактируемом и совместимом с БД формате CSV.

      Для точного позиционирования образцов по жилам анализатор X-MET 7500 дополнительно комплектуется камерой, снимки с которой могут сохраняться и использоваться в дальнейшем в качестве вспомогательных материалов. Прибор совместим как со стандартными, так и со специализированными GPS-приемниками, что позволяет включать в аналитические отчеты сведения о месте проведения измерений.

      Назад к списку
      • Применение оборудования 11
      • ФХМА 5
      • Микроскопия 3
      • Электронная микроскопия 4
      • Анализ металлов и сплавов 18
      ИСП-ОЭС ФХМА
      Компания
      О компании
      История
      Новости
      Реквизиты
      Каталог
      Портативные РФА анализаторы
      Оптико-эмиссионные спектрометры
      Рентгенофлуоресцентные спектрометры
      Напольные рентгеновские спектрометры
      Рентгеновские дифрактометры
      Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
      Рентгеновские толщиномеры покрытий
      Элементный анализ CS/ONH
      Оптические микроскопы
      Электронные микроскопы
      Пробоподготовка для спектрального анализа
      Испытательные машины
      Твердомеры
      Металлография
      Расходные материалы для пробоподготовки
      Услуги
      Обслуживание оборудования
      Статьи
      Бренды
      Контакты
      +7 (495) 640-19-71
      +7 (495) 640-19-71
      +7 (495) 640-91-83
      +7 (495) 741-59-04
      E-mail
      zakaz@synercon.ru

      Адрес
      Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
      Режим работы
      Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
      zakaz@synercon.ru

      Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
      © 2026 Синеркон: Качество под контролем.
      Политика конфиденциальности