#PROP_TITLE#
—
#PROP_VALUE#
Пробоподготовка для электронной микроскопии
В одном настольном приборе объединены технологии подготовки образцов для ПЭМ, РЭМ и СМ-анализа, чем не может похвастаться никакой другой прибор.
Пробоподготовка для электронной микроскопии
Устройство для тримминга образцов для просвечивающей и сканирующей электронной микроскопии.
Пробоподготовка для электронной микроскопии
Высококачественный ультрамикротом для получения срезов при комнатной температуре или при глубокой заморозке.
Пробоподготовка для электронной микроскопии
Пробоподготовка для электронной микроскопии
Пробоподготовка для электронной микроскопии
В демозале
Настольные сканирующие электронные микроскопы
LANSEM 30 – компактный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ), объединяющий в одном приборе высококачественную визуализацию топографии и элементный анализ.
Настольные сканирующие электронные микроскопы
LANSEM 20 – это настольный сканирующий электронный микроскоп, объединяющий высококачественную визуализацию топографии и элементный анализ в компактном формате.
Настольные сканирующие электронные микроскопы
Настольный сканирующий электронный микроскоп LANSEM подходит для наблюдения образцов при больших увеличениях, исследования морфологии поверхности во вторичных и обратно рассеянных (отраженных) электронах. Доступен режим низкого вакуума для исследования не токопроводящих образцов. Микроскоп оснащён ЭДС детектором и позволяет проводить качественный и количественный элементный анализ.
Настольные сканирующие электронные микроскопы
Микроскоп электронный сканирующий Hitachi TM4000 Plus.
