Настольные сканирующие электронные микроскопы

LANSEM 30 – компактный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ), объединяющий в одном приборе высококачественную визуализацию топографии и элементный анализ.

LANSEM 20 – это настольный сканирующий электронный микроскоп, объединяющий высококачественную визуализацию топографии и элементный анализ в компактном формате.

Настольный сканирующий электронный микроскоп LANSEM подходит для наблюдения образцов при больших увеличениях, исследования морфологии поверхности во вторичных и обратно рассеянных (отраженных) электронах. Доступен режим низкого вакуума для исследования не токопроводящих образцов. Микроскоп оснащён ЭДС детектором и позволяет проводить качественный и количественный элементный анализ.

Микроскоп электронный сканирующий Hitachi TM4000 Plus.