Размер шрифта
Цвет фона и шрифта
Изображения
Озвучивание текста
Обычная версия сайта
Синеркон
Синеркон
Качество под контролем
+7 (495) 640-19-71
+7 (495) 640-19-71
+7 (495) 640-91-83
+7 (495) 741-59-04
E-mail
zakaz@synercon.ru

Адрес
Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
Режим работы
Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
О компании
  • О компании
  • История
  • Новости
  • Реквизиты
Оборудование
  • Портативные РФА анализаторы
  • Оптико-эмиссионные спектрометры
  • Рентгенофлуоресцентные спектрометры
  • Напольные рентгеновские спектрометры
  • Рентгеновские дифрактометры
  • Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
  • Рентгеновские толщиномеры покрытий
  • Элементный анализ CS/ONH
  • Оптические микроскопы
  • Электронные микроскопы
  • Пробоподготовка для спектрального анализа
  • Испытательные машины
  • Твердомеры
  • Металлография
  • Расходные материалы для пробоподготовки
Сервис
  • Обслуживание оборудования
    • Пусконаладочные работы
    • Обучение после внедрения оборудования
Демозал
Наши клиенты
  • Промышленность
Бренды
Контакты
0
Синеркон
+7 (495) 640-19-71
+7 (495) 640-19-71
+7 (495) 640-91-83
+7 (495) 741-59-04
E-mail
zakaz@synercon.ru

Адрес
Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
Режим работы
Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
0 Сравнение
О компании
  • О компании
  • История
  • Новости
  • Реквизиты
Оборудование
Посетите демонстрационный зал в Москве
Посетите демонстрационный зал в Москве
  • Портативные РФА анализаторы
    Портативные РФА анализаторы
  • Оптико-эмиссионные спектрометры
    Оптико-эмиссионные спектрометры
  • Рентгенофлуоресцентные спектрометры
    Рентгенофлуоресцентные спектрометры
  • Напольные рентгеновские спектрометры
    Напольные рентгеновские спектрометры
  • Рентгеновские дифрактометры
    Рентгеновские дифрактометры
  • Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
    Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
  • Рентгеновские толщиномеры покрытий
    Рентгеновские толщиномеры покрытий
  • Элементный анализ CS/ONH
    Элементный анализ CS/ONH
  • Оптические микроскопы
    Оптические микроскопы
  • Электронные микроскопы
    Электронные микроскопы
  • Пробоподготовка для спектрального анализа
    Пробоподготовка для спектрального анализа
  • Испытательные машины
    Испытательные машины
  • Твердомеры
    Твердомеры
  • Металлография
    Металлография
  • Расходные материалы для пробоподготовки
    Расходные материалы для пробоподготовки
Сервис
  • Обслуживание оборудования
    Обслуживание оборудования
Демозал
Наши клиенты
  • Промышленность
Бренды
Контакты
    Синеркон
    О компании
    • О компании
    • История
    • Новости
    • Реквизиты
    Оборудование
    Посетите демонстрационный зал в Москве
    Посетите демонстрационный зал в Москве
    • Портативные РФА анализаторы
      Портативные РФА анализаторы
    • Оптико-эмиссионные спектрометры
      Оптико-эмиссионные спектрометры
    • Рентгенофлуоресцентные спектрометры
      Рентгенофлуоресцентные спектрометры
    • Напольные рентгеновские спектрометры
      Напольные рентгеновские спектрометры
    • Рентгеновские дифрактометры
      Рентгеновские дифрактометры
    • Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
      Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
    • Рентгеновские толщиномеры покрытий
      Рентгеновские толщиномеры покрытий
    • Элементный анализ CS/ONH
      Элементный анализ CS/ONH
    • Оптические микроскопы
      Оптические микроскопы
    • Электронные микроскопы
      Электронные микроскопы
    • Пробоподготовка для спектрального анализа
      Пробоподготовка для спектрального анализа
    • Испытательные машины
      Испытательные машины
    • Твердомеры
      Твердомеры
    • Металлография
      Металлография
    • Расходные материалы для пробоподготовки
      Расходные материалы для пробоподготовки
    Сервис
    • Обслуживание оборудования
      Обслуживание оборудования
    Демозал
    Наши клиенты
    • Промышленность
    Бренды
    Контакты
      +7 (495) 640-19-71
      +7 (495) 640-91-83
      +7 (495) 741-59-04
      E-mail
      zakaz@synercon.ru

      Адрес
      Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
      Режим работы
      Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
      0
      Синеркон
      Телефоны
      +7 (495) 640-19-71
      +7 (495) 640-91-83
      +7 (495) 741-59-04
      E-mail
      zakaz@synercon.ru

      Адрес
      Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
      Режим работы
      Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
      0
      Синеркон
      • О компании
        • О компании
        • О компании
        • История
        • Новости
        • Реквизиты
      • Оборудование
        • Оборудование
        • Портативные РФА анализаторы
        • Оптико-эмиссионные спектрометры
        • Рентгенофлуоресцентные спектрометры
        • Напольные рентгеновские спектрометры
        • Рентгеновские дифрактометры
        • Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
        • Рентгеновские толщиномеры покрытий
        • Элементный анализ CS/ONH
        • Оптические микроскопы
        • Электронные микроскопы
        • Пробоподготовка для спектрального анализа
        • Испытательные машины
        • Твердомеры
        • Металлография
        • Расходные материалы для пробоподготовки
      • Сервис
        • Сервис
        • Обслуживание оборудования
          • Обслуживание оборудования
          • Пусконаладочные работы
          • Обучение после внедрения оборудования
      • Демозал
      • Наши клиенты
        • Наши клиенты
        • Промышленность
      • Бренды
      • Контакты
      • 0 Сравнение
      • +7 (495) 640-19-71
        • Телефоны
        • +7 (495) 640-19-71
        • +7 (495) 640-91-83
        • +7 (495) 741-59-04
      • Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
      • zakaz@synercon.ru

      • Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00

      Анализ рапы методом ИСП-ОЭС

      Главная
      —
      Статьи
      —
      ФХМА
      Применение оборудования
      Микроскопия
      Электронная микроскопия
      Анализ металлов и сплавов
      Российские ГОСТы и нормы
      Международные стандарты и нормы
      —Анализ рапы методом ИСП-ОЭС
      Анализ рапы методом ИСП-ОЭС
      ФХМА
      2 апреля 2026
      Анализ рапы нужен не только для фиксации состава, но и для выбора технологии переработки, оценки экономической ценности сырья и организации рутинного контроля.

      Рапа – это высокоминерализованный природный или технологический рассол. Она может содержать не только натрий и калий, но и литий, бор, бром, магний, кальций, стронций и другие компоненты. Поэтому анализ рапы нужен не только для фиксации состава, но и для выбора технологии переработки, оценки экономической ценности сырья и организации рутинного контроля.

      Для такой матрицы ИСП-ОЭС чаще всего становится базовым рабочим методом. Для рапы решает не максимальная чувствительность сама по себе, а сочетание устойчивости к высокой солевой нагрузке, широкого рабочего диапазона и возможности одновременно определять макро- и микрокомпоненты.

      Рапа – что это за материал

      Рапа встречается в природных солёных озёрах, рассольных системах, испарительных бассейнах и технологических растворах после выщелачивания или концентрирования. Для анализа важны три особенности матрицы: высокое солесодержание, широкий разброс концентраций по элементам и склонность части проб к выпадению осадка при хранении и изменении кислотности.

      Для чего нужен анализ

      По сути, анализ рапы – это аналитический паспорт сырья. Он нужен, чтобы понять содержание целевых компонентов, оценить мешающие примеси, выбрать технологию извлечения, рассчитать реагентный режим и контролировать стабильность процесса. Для производственной лаборатории это ещё и база для сравнения партий, расчёта выхода и контроля качества промежуточных продуктов.

      Какие элементы важны и зачем

      Элемент Почему важен Практический смысл
      Li Целевой компонент при литиевой тематике Показывает ценность сырья и перспективу извлечения
      B Сопутствующий компонент и технологический фактор Может влиять на выбор технологии и на оценку стоимости переработки
      Mg Критичный мешающий компонент Часто определяет сложность разделения и очистки
      Ca Связан с риском осадкообразования Важно увязывать с пробоподготовкой и стабильностью процесса
      Na и K Формируют солевую основу матрицы Нужны для общего понимания состава рассола и рабочей нагрузки на метод
      Br Технологически значимый сопутствующий компонент Подчёркивает экономическую ценность и широту аналитической программы
      Sr и S Сопутствующие компоненты для технологического контроля Помогают оценивать матрицу и состав рассола в более широком контексте

      Какой метод предпочтителен

      В рутинном анализе исходной рапы предпочтителен ИСП-ОЭС. У ИСП-МС ниже пределы обнаружения, но для очень солёной хлоридной матрицы это преимущество не всегда решающее. На практике чаще важнее возможность работать с минимальным разбавлением, спокойнее переносить высокий TDS и в одном запуске видеть как основные соли, так и примесные элементы.

      ИСП-МС остаётся сильным альтернативным методом, когда нужны ультраследовые концентрации, редкоземельные элементы, изотопные задачи или контроль очень низкого остаточного Li после извлечения. То есть эти методы, взаимодополняющие для разного уровня задач:

      ИСП-ОЭС - базовый метод для рутинного анализа исходной рапы.

      ИСП-МС - специализированный инструмент для следовых и ультраследовых концентраций, анализа изотопов. 

      Пробоподготовка

      Для самой рапы как жидкой матрицы разложение чаще всего не является базовой схемой. В типовом случае достаточно перемешивания, отбора аликвоты, при необходимости фильтрации, подкисления и минимального разбавления. Плитка и микроволновка становятся актуальными уже для осадка, шлама, фильтра или сухого остатка.

      Объект Вариант подготовки Типичная схема Типичное время Комментарий
      Исходная рапа Прямой анализ или минимальное разбавление Перемешивание, отбор аликвоты, фильтрация при необходимости, подкисление, разбавление 5 - 15 минут Основной сценарий для жидкой матрицы
      Осадок или твёрдый остаток Разложение на плитке Кислотное разложение на нагреве в открытой системе 40 - 120 минут Рабочий вариант при базовом оснащении
      Осадок или твёрдый остаток Микроволновое разложение Герметичное кислотное разложение под давлением 45 - 90 минут Более воспроизводимо для сложных твёрдых матриц

      Что даёт анализ на ИСП-ОЭС

      После подготовки пробу анализируют методом ИСП-ОЭС. В зависимости от программы измерения лаборатория получает данные по основным компонентам и следовым примесям в одном цикле. Для серийной работы это удобно: оператор видит не только Li, но и Na, K, Ca, Mg, Br, S, Sr и ряд других элементов без разбиения задачи на несколько методик.

      Время рутинного анализа обычно составляет несколько минут на одну пробу после стабилизации системы. Точное значение зависит от числа аналитических линий, режима промывки и количества повторов. 

      Пример схемы калибровки для солевой матрицы 35 г/л NaCl

      Стандарт Единицы Cal.0 Cal.1 Cal.2
      B, Sr мг/л 0 0,1 1
      Ba, Be, Co, Cr, Fe, Li, Mn, Mo, V, Zn мкг/л 0 20 50
      Br, Ca, I, K, S мг/л 0 10 100
      Mg мг/л 0 10 200
      Si мг/л 0 10 500
      Na мг/л 0 100 1000
      P мг/л 0 50 500

      Пример реальных результатов по двум солевым образцам

      Ниже приведён компактный пример результатов для двух образцов солевой матрицы 35 г/л NaCl.

      Элемент Образец A Образец B Единицы измерения Матрично-специфический предел обнаружения
      B 4,60 4,55 мг/л 0,46 мг/л
      Br 54,9 56,0 мг/л 8,65 мг/л
      Ca 400 396 мг/л не указан
      K 388 393 мг/л не указан
      Li 192 209 мкг/л 1,88 мкг/л
      Mg 998 999 мг/л 1,40 мг/л
      Na 10 880 10 960 мг/л не указан
      S 919 894 мг/л 9,46 мг/л
      Sr 7,36 7,25 мг/л 0,05 мг/л

      Альтернативные методы

      Метод ИСП‑МС – это более специальный инструмент. Он предпочтителен, когда нужны ультраследовые примеси, редкоземельные элементы, изотопный анализ или очень низкие уровни остаточного Li. Это лучший выбор, когда требуемые уровни близки к пределам ИСП‑ОЭС или ниже них. Опыт работы на ИСП МС с применением аэрозольного разбавления показал количественный анализ 34 элементов в растворах 0.5–4.0% w/w NaCl, а для ^7Li указан MDL 1.89 мкг/л. То есть для сверхнизких концентраций ИСП‑МС выигрывает, но обычно ценой более сложной матричной коррекции и более “капризной” работы на солёных пробах.

      Заключение

      Для анализа рапы ИСП-ОЭС особенно силён там, где нужна высокая матричная устойчивость, одновременный контроль макро- и микрокомпонентов и минимизация пробоподготовки. Именно поэтому метод хорошо подходит как для геохимических лабораторий, так и для производственного контроля.

      Наша команда квалифицированных специалистов поможет составить правильную спецификацию под конкретную матрицу и рабочие диапазоны, поможет определиться с пробоподготовкой, настройкой методики, запуском прибора и организацией рутинного контроля под ключ.

      Оборудование
      Спектральный диапазон
      160-900 нм
      Обзор плазмы
      радиальный и аксиальный
      Спектральное разрешение
      <0,0065 нм
      Детектор
      CCD
      Динамический диапазон
      4-5 порядков
      В демозале
      Оптико-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой SynOptic 550
      Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
      Оптико-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой SynOptic 550
      Спектральный диапазон
      160-900 нм
      Обзор плазмы
      радиальный и аксиальный
      Спектральное разрешение
      <0,006 нм
      Детектор
      продвинутый CID
      Динамический диапазон
      6 порядков
      В демозале
      Оптико-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой SynOptic 550 Pro
      Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
      Оптико-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой SynOptic 550 Pro
      Назад к списку
      • Применение оборудования 11
      • ФХМА 5
      • Микроскопия 3
      • Электронная микроскопия 4
      • Анализ металлов и сплавов 18
      ИСП-ОЭС ФХМА
      Компания
      О компании
      История
      Новости
      Реквизиты
      Каталог
      Портативные РФА анализаторы
      Оптико-эмиссионные спектрометры
      Рентгенофлуоресцентные спектрометры
      Напольные рентгеновские спектрометры
      Рентгеновские дифрактометры
      Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
      Рентгеновские толщиномеры покрытий
      Элементный анализ CS/ONH
      Оптические микроскопы
      Электронные микроскопы
      Пробоподготовка для спектрального анализа
      Испытательные машины
      Твердомеры
      Металлография
      Расходные материалы для пробоподготовки
      Услуги
      Обслуживание оборудования
      Статьи
      Бренды
      Контакты
      +7 (495) 640-19-71
      +7 (495) 640-19-71
      +7 (495) 640-91-83
      +7 (495) 741-59-04
      E-mail
      zakaz@synercon.ru

      Адрес
      Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
      Режим работы
      Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
      zakaz@synercon.ru

      Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
      © 2026 Синеркон: Качество под контролем.
      Политика конфиденциальности