Измерительный микроскоп VMM 200 имеет виброустойчивое массивное основание из чугуна позволяет работать с этой моделью микроскопа даже в самых тяжелых рабочих условиях.

Предназначен для контроля и измерения деталей после механической обработки, изогнутых и перфорированных, деталей двс, зубчатых передач, режущего и медицинского инструмента.

Варианты освещения: проходящий, отраженный и падающий свет, широкий выбор дополнительных источников освещения. благодаря специализированным объективам и методам контрастирования, микроскоп способен работать в светлом и темном поле, поляризационном контрасте и в дифференциально-интерференционном контрасте (DIC) для решения задач по материаловедению. Высокоточная измерительная система обладает низкой погрешностью благодаря оптоэлектронной передаче информации, основанной на инкрементальной линейной стальной шкале с дискретностью 0,0001 мм. возможность оснащения моторизованными приводами CNC по осям X, Y, Z для работы в автоматических программах измерений. Модульная концепция предлагает каждому заказчику свой индивидуальный вариант исполнения.

Применение: судостроение, автомобильная промышленность, авиакосмическая промышленность, сельскохозяйственное машиностроение, железнодорожное машиностроение, оптико-механическая промышленность, микроэлектроника, металлургия.

Соответствует стандартам PTB и ГОСТ. Отвечает требованиям VDI/VDE 2617. Произведен в Германии.

Специализированная версия микроскопа с наклоняемым штативом позволяет контролировать профили, червячные передачи, сверла в нормальном сечении под углом до +/- 20°

Измерительный стол гарантирует точность измерения ≤ 3 мкм на 250 мм измеряемой длины.

• Стабильность результатов измерений за счет роликовых направляющих

• Управляемый X/Y стол на специализированных роликах с измерительным диапазоном 250 x 150 мм.

• Быстрое и удобное ручное позиционирование измерительного стола, опционально с моторизованным приводом.

• Оптоэлектронная система, основанная на инкрементальной линейной стальной шкале.

• Дискретность: 0.0001 мм.

• Опциональная цифровая измерительная система оси Z, измерительный диапазон 150 мм.

• Высокоточная измерительная система с низкой погрешностью.

• Соответствует стандартам PTB и ГОСТ

• Отвечает требованиям VDI/VDE 2617.

• Контроль сложных измерений через оптическую систему и видеокамеру.

Абсолютная погрешность:

• 1.8  мкм  +  0.005  x L мкм (где L в мм)

• Основание из чугуна.

• Измерительный диапазон 250 x 150 мм 

Модульная концепция измерительного микроскопа предлагает каждому клиенту свою индивидуальную спецификацию.


Оптика

• Измерительные объективы TELEPLAN
• Для линейных измерений и форм.

• Микрообъективы PLAN FLUOR для выполнения микроанализа (металлургия).

• Объективы с телецентрической траекторией луча позволяет точно производить измерения на слабо сфокусированной поверхности, размер изображения остается неизменным – обязательное условие для высокой точности измерений.

• Объективы с высокой оптической коррекцией, исправлена ахроматическая аберрация, исправлена кривизна изображения по полю, что обеспечивает резкое изображение объекта по всему полю наблюдения. Объективы разработаны  компанией Leica.

• Большие рабочие расстояния для высоких заготовок

• Легко заменяемые объективы за одно движение

• Подключение видео камеры для обработки изображении

• Бинокулярный тубус

• Получение изображения в светлом/темном поле, в поляризованном контрасте и дифференциально интерференционном контрасте (DIC).

Многофункциональное считывающее устройство QC 200 / QC 300

- Небольшое цифровое считывающее устройство с 2-4-осным дисплеем и встроенной счетной функцией без обработки изображения для проведения быстрых измерений в производственных помещениях.

- полярная и декартова система координат

Metlogix M2

Измерительная система M2

Улучшенное мультисенсорное приложение для планшетных ПК.  Понятный интерфейс с изображениями и символами.  Основные характеристики: цифровое считывание, просмотр графиков, отчеты с допусками и объемные выводы данных. 

Может быть использовано с ручным микроскопом.

полярная и декартова система координат

OMS

Измерительная система OMS

Понятное и простое в использовании измерительное ПО от компании UHL; идеально для измерения деталей после первой обработки или небольших партий. Подвижные экранные рамки и измеряемые параметры (расстояние/угол) для легкого визуального исследования. Различные измерительные инструменты с автоматическим определением границ. Может быть использовано с ручным и моторизованным микроскопом.

Metlogix M3

Видео измерительная система Metlogix M3

• Понятная функция обработки изображений для измерения постоянных 2D

геометрических элементов;

• Комбинации и сравнения для измеряемых элементов;

• Функция выравнивания образца;

• Создание программ;

• Оценка допусков в соответствии с Din/ISO;

• Многокоординатная система;

• Русифицированное ПО;

• Вывод данных и печать в виде графиков;

• Размеры части изображения;

• Вывод картинки с/без измерительных параметров;

• DXF модуль для сравнения измерений с рисунками, положительные/отрицательные оценки;

• Удаленное управление освещением;

• Оптимальное обнаружение краев при помощи «Логического измерения» или активного/фиксированного перекрестия Может быть использовано с ручным и моторизованным микроскопом;

• полярная и декартова система координат.

Страна происхождения: Германия