Характеристики:

• Увеличение x10 - x100 000;

• Глубина резкости: 0.5 мм;

• Ускоряющее напряжение: 5 кВ, 10 кВ, 15 кВ;

• Перемещение столика: X±40 мм, Y±35 мм;

• Максимальный размер образца: 80 мм в диаметре, 50 мм в высоту;

• Минимальный шаг перемещения: 65 нм;

• Детекторы: 4-х сегментный высокочувствительный полупроводниковый детектор, детектор вторичных электронов для режима низкого вакуума;

• Система микроанализа для настольного микроскопа Hitachi TM4000Plus: Кремний-дрейфовый детектор с рабочей площадью 30 мм2 Гарантированное разрешение по энергии: 137 эВ (Mn Ka);

• Источник электронов: предварительно центрированный вольфрамовый катод;

• Режим исследования: стандартный, высоковакуумный и режим снятия зарядки с образца (низковакуумный режим);

• Автоматизация: автостарт, автофокус, автоконтраст/яркость;

• Вакуумная система полностью безмаслянная: турбомолекулярный насос и диафрагменный насос;

• Формат сохранения данных: BMP, TIFF, JPEG, 2560х1920 пикс;

• Страна происхождения: Япония.

Система микроанализа ЭДС для настольного электронного микроскопа Hitachi TM4000Plus

• Кремний-дрейфовый детектор с рабочей площадью 30 мм2

• Гарантированное разрешение по энергии: 137 эВ (Mn Ka)

• Определение элементов от 5В до 95Am

• Рентгеновское картирование

• Сохранение полного спектра в каждой точке

• Вакуумный сенсор для отключения детектора во время продувки рабочей камеры

• Система охлаждения: термоэлектрический модуль Пельтье, не требующий жидкого азота и работы вентилятора

Основное:

Прибор штатно имеет режим низкого вакуума, который позволяет исследовать непроводящие образцы без предварительного напыления металла.

Для использования микроскопа не требуется специальной подготовки помещения, достаточно обычного лабораторного стола. Управление микроскопом осуществляется через простой и понятный графический интерфейс, в котором доступны функции автоматической настройки фокуса, контраста и яркости.

Дополнительные возможности TM 4000 Plus:

Программа 3D-View Программное обеспечение, позволяющее создать 3D модель поверхности объекта из 4-х изображений, полученных с помощью 4-х сегментного детектора обратнорассеянных электронов.

Столик с наклоном/вращением позволяет быстро и эффективно проводить съёмку рельефных образцов.

Столик для охлаждения/нагрева образца Охлаждение до -50°С даёт возможность анализа влажных биологических объектов в естественном состоянии.

Столик для механических испытаний (растяжение/сжатие) Появляется возможность решения большого круга материаловедческих задач, в реальном времени наблюдая за трансформациями объектов на наноуровне при растяжении/сжатии.