EM 8100 – сканирующий электронный микроскоп полевой эмиссии (СЭМ) с катодом Шоттки, позволяющий получать СЭМ-изображения высокого разрешения и проводить анализ элементного состава в реальном времени.
EM 6900 – сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) с термоэмиссионным вольфрамовым катодом, позволяющий получать СЭМ-изображения и проводить анализ элементного состава в реальном времени.
Термоэмиссионный электронный микроскоп с ускоряющим напряжением 20–120кВ
