Размер шрифта
Цвет фона и шрифта
Изображения
Озвучивание текста
Обычная версия сайта
Синеркон
Синеркон
Качество под контролем
+7 (495) 640-19-71
+7 (495) 640-19-71
+7 (495) 640-91-83
+7 (495) 741-59-04
E-mail
zakaz@synercon.ru

Адрес
Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
Режим работы
Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
О компании
  • О компании
  • История
  • Новости
  • Реквизиты
Оборудование
  • Портативные РФА анализаторы
  • Оптико-эмиссионные спектрометры
  • Рентгенофлуоресцентные спектрометры
  • Напольные рентгеновские спектрометры
  • Рентгеновские дифрактометры
  • Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
  • Рентгеновские толщиномеры покрытий
  • Элементный анализ CS/ONH
  • Оптические микроскопы
  • Электронные микроскопы
  • Пробоподготовка для спектрального анализа
  • Испытательные машины
  • Твердомеры
  • Металлография
  • Расходные материалы для пробоподготовки
Сервис
  • Обслуживание оборудования
    • Пусконаладочные работы
    • Обучение после внедрения оборудования
Демозал
Наши клиенты
  • Промышленность
Бренды
Контакты
Синеркон
+7 (495) 640-19-71
+7 (495) 640-19-71
+7 (495) 640-91-83
+7 (495) 741-59-04
E-mail
zakaz@synercon.ru

Адрес
Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
Режим работы
Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
О компании
  • О компании
  • История
  • Новости
  • Реквизиты
Оборудование
Посетите демонстрационный зал в Москве
Посетите демонстрационный зал в Москве
14 января 2025
Демонстрация оборудования на вашем объекте в реальных условиях
Демонстрация оборудования на вашем объекте в реальных условиях
16 января 2025
  • Портативные РФА анализаторы
    Портативные РФА анализаторы
  • Оптико-эмиссионные спектрометры
    Оптико-эмиссионные спектрометры
  • Рентгенофлуоресцентные спектрометры
    Рентгенофлуоресцентные спектрометры
  • Напольные рентгеновские спектрометры
    Напольные рентгеновские спектрометры
  • Рентгеновские дифрактометры
    Рентгеновские дифрактометры
  • Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
    Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
  • Рентгеновские толщиномеры покрытий
    Рентгеновские толщиномеры покрытий
  • Элементный анализ CS/ONH
    Элементный анализ CS/ONH
  • Оптические микроскопы
    Оптические микроскопы
  • Электронные микроскопы
    Электронные микроскопы
  • Пробоподготовка для спектрального анализа
    Пробоподготовка для спектрального анализа
  • Испытательные машины
    Испытательные машины
  • Твердомеры
    Твердомеры
  • Металлография
    Металлография
  • Расходные материалы для пробоподготовки
    Расходные материалы для пробоподготовки
Сервис
  • Обслуживание оборудования
    Обслуживание оборудования
Демозал
Наши клиенты
  • Промышленность
Бренды
Контакты
    Синеркон
    О компании
    • О компании
    • История
    • Новости
    • Реквизиты
    Оборудование
    Посетите демонстрационный зал в Москве
    Посетите демонстрационный зал в Москве
    14 января 2025
    Демонстрация оборудования на вашем объекте в реальных условиях
    Демонстрация оборудования на вашем объекте в реальных условиях
    16 января 2025
    • Портативные РФА анализаторы
      Портативные РФА анализаторы
    • Оптико-эмиссионные спектрометры
      Оптико-эмиссионные спектрометры
    • Рентгенофлуоресцентные спектрометры
      Рентгенофлуоресцентные спектрометры
    • Напольные рентгеновские спектрометры
      Напольные рентгеновские спектрометры
    • Рентгеновские дифрактометры
      Рентгеновские дифрактометры
    • Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
      Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
    • Рентгеновские толщиномеры покрытий
      Рентгеновские толщиномеры покрытий
    • Элементный анализ CS/ONH
      Элементный анализ CS/ONH
    • Оптические микроскопы
      Оптические микроскопы
    • Электронные микроскопы
      Электронные микроскопы
    • Пробоподготовка для спектрального анализа
      Пробоподготовка для спектрального анализа
    • Испытательные машины
      Испытательные машины
    • Твердомеры
      Твердомеры
    • Металлография
      Металлография
    • Расходные материалы для пробоподготовки
      Расходные материалы для пробоподготовки
    Сервис
    • Обслуживание оборудования
      Обслуживание оборудования
    Демозал
    Наши клиенты
    • Промышленность
    Бренды
    Контакты
      +7 (495) 640-19-71
      +7 (495) 640-91-83
      +7 (495) 741-59-04
      E-mail
      zakaz@synercon.ru

      Адрес
      Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
      Режим работы
      Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
      Синеркон
      Телефоны
      +7 (495) 640-19-71
      +7 (495) 640-91-83
      +7 (495) 741-59-04
      E-mail
      zakaz@synercon.ru

      Адрес
      Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
      Режим работы
      Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
      Синеркон
      • О компании
        • О компании
        • О компании
        • История
        • Новости
        • Реквизиты
      • Оборудование
        • Оборудование
        • Портативные РФА анализаторы
        • Оптико-эмиссионные спектрометры
        • Рентгенофлуоресцентные спектрометры
        • Напольные рентгеновские спектрометры
        • Рентгеновские дифрактометры
        • Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
        • Рентгеновские толщиномеры покрытий
        • Элементный анализ CS/ONH
        • Оптические микроскопы
        • Электронные микроскопы
        • Пробоподготовка для спектрального анализа
        • Испытательные машины
        • Твердомеры
        • Металлография
        • Расходные материалы для пробоподготовки
      • Сервис
        • Сервис
        • Обслуживание оборудования
          • Обслуживание оборудования
          • Пусконаладочные работы
          • Обучение после внедрения оборудования
      • Демозал
      • Наши клиенты
        • Наши клиенты
        • Промышленность
      • Бренды
      • Контакты
      • +7 (495) 640-19-71
        • Телефоны
        • +7 (495) 640-19-71
        • +7 (495) 640-91-83
        • +7 (495) 741-59-04
      • Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
      • zakaz@synercon.ru

      • Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00

      Криминалистические микроскопы

      7
      Главная
      —
      Оборудование
      —
      Оптические микроскопы
      Портативные РФА анализаторы
      Оптико-эмиссионные спектрометры
      Рентгенофлуоресцентные спектрометры
      Напольные рентгеновские спектрометры
      Рентгеновские дифрактометры
      Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
      Рентгеновские толщиномеры покрытий
      Элементный анализ CS/ONH
      Электронные микроскопы
      Пробоподготовка для спектрального анализа
      Испытательные машины
      Твердомеры
      Металлография
      Расходные материалы для пробоподготовки
      —
      Криминалистические микроскопы
      Биологические микроскопы
      Металлографические микроскопы
      Стереомикроскопы
      Измерительные микроскопы
      Цифровые микроскопы
      Геологические микроскопы
      Инспекционные микроскопы
      Портативные микроскопы
      Конфокальные микроскопы
      Программное обеспечение автоматизированного анализа
      Фильтр
      По популярности (возрастание)
      По наименованию (А-Я)
      По наименованию (Я-А)
      По популярности (возрастание)
      По популярности (убывание)
      Фильтр
      Прямые исследовательские микроскопы Leica DM8000/ DM12000 Прямые исследовательские микроскопы Leica DM8000/ DM12000 Прямые исследовательские микроскопы Leica DM8000/ DM12000 Прямые исследовательские микроскопы Leica DM8000/ DM12000
      Криминалистические микроскопы
      Прямые исследовательские микроскопы Leica DM8000/ DM12000
      Микроскоп Leica DM8000 / DM12000 предназначен для исследований в области микроэлектроники, в том числе кремниевых пластин.
      Сравнительный микроскоп Leica FSC Сравнительный микроскоп Leica FSC
      Криминалистические микроскопы
      Сравнительный микроскоп Leica FSC
      Предназначен для работ в области экспертизы и криминалистики для изучения баллистических образцов и документов.
      Leica FS CB
      Криминалистические микроскопы
      Leica FS CB
      Предназначен для работ в области экспертизы, криминалистики и судебно-медицинской экспертизы для изучения образцов волос, волокон, тканей, краски и следов от пуль
      Микроскоп для судебной экспертизы Leica FS4000/ FS4
      Криминалистические микроскопы
      Микроскоп для судебной экспертизы Leica FS4000/ FS4
      Предназначен для работ в области экспертизы, криминалистики и судебно-медицинской экспертизы для изучения образцов волос, волокон, тканей, краски и следов от пуль.
      Сравнительный микроскоп EVD 440
      Криминалистические микроскопы
      Сравнительный микроскоп EVD 440
      Инновационное решение для криминалистики, баллистических исследований и анализа следов инструментов. Он сочетает в себе высочайшую точность, гибкость настройки и эргономичный дизайн, что делает его незаменимым инструментом для судебных экспертов и специалистов в области безопасности.
      Сравнительный микроскоп CFM5B
      Криминалистические микроскопы
      Сравнительный микроскоп CFM5B
      Специализированный инструмент, разработанный для параллельного анализа двух объектов в одном поле зрения. Он незаменим в криминалистике и судебной экспертизе, где требуется точное сопоставление микроскопических деталей для установления совпадений или различий между образцами
      Криминалистический микроскоп Leica FSM
      Криминалистические микроскопы
      Криминалистический микроскоп Leica FSM
      Ручная (M) версия. Микроскоп предназначен для работ в области экспертизы и криминалистики для изучения баллистических образцов и документов
      Каталог
      • Портативные РФА анализаторы
      • Оптико-эмиссионные спектрометры
      • Рентгенофлуоресцентные спектрометры
      • Напольные рентгеновские спектрометры
      • Рентгеновские дифрактометры
      • Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
      • Рентгеновские толщиномеры покрытий
      • Элементный анализ CS/ONH
      • Оптические микроскопы
      • Электронные микроскопы
      • Пробоподготовка для спектрального анализа
      • Испытательные машины
      • Твердомеры
      • Металлография
      • Расходные материалы для пробоподготовки
      Компания «СИНЕРКОН» уже более 18 лет занимает лидирующие позиции на рынке аналитического и измерительного оборудования в России и странах СНГ.
      Компания
      О компании
      История
      Новости
      Реквизиты
      Каталог
      Портативные РФА анализаторы
      Оптико-эмиссионные спектрометры
      Рентгенофлуоресцентные спектрометры
      Напольные рентгеновские спектрометры
      Рентгеновские дифрактометры
      Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
      Рентгеновские толщиномеры покрытий
      Элементный анализ CS/ONH
      Оптические микроскопы
      Электронные микроскопы
      Пробоподготовка для спектрального анализа
      Испытательные машины
      Твердомеры
      Металлография
      Расходные материалы для пробоподготовки
      Услуги
      Обслуживание оборудования
      Статьи
      Бренды
      Контакты
      +7 (495) 640-19-71
      +7 (495) 640-19-71
      +7 (495) 640-91-83
      +7 (495) 741-59-04
      E-mail
      zakaz@synercon.ru

      Адрес
      Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
      Режим работы
      Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
      zakaz@synercon.ru

      Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
      © 2026 Синеркон: Качество под контролем.
      Политика конфиденциальности