Микроскоп Leica DCM8 предназначен для исследования топографии поверхности в конфокальном и интерфером.

Конфокальные микроскопы Leica используются для проведения исследований самого высокого уровня, позволяющие получать трехмерные изображения с высочайшим разрешением.


С помощью конфокальных микроскопов возможно проведение высокоскоростной съемки по осям X, Y, Z. Конфокальные микроскопы Leica также могут работать в режиме интерферометрии и проводить измерения шероховатости с суб-нанометровым разрешением.


Созданная на конфокальном интерферометре Leica 3D модель может быть исследована с помощью программного обеспечения Leica MAP, с измерением профиля всей сканированной поверхности.