Конфокальный профилометр Leica DCM8
Узнать цену
Микроскоп Leica DCM8 предназначен для исследования топографии поверхности в конфокальном и интерфером.
Технические характеристики
  • Точность (увеличение 20 x):
    С открытым контуром: относительная ошибка <
  • Повторяемость (увеличение 50 x):
    Конфокальный режим / VSI: точность = 0,003 мкм (3 нм)
  • Виброизоляция:
    Активная или пассивная
  • Условия эксплуатации:
    Температура: от 10° до 35° C
  • Размеры и масса:
    Д x Ш x В = 573 мм x 390 мм x 569 мм
  • Отражающая способность образца:
    0,1-100%
Описание

Микроскоп Leica DCM8 предназначен для исследования топографии поверхности в конфокальном и интерферометрическом режимах с построением моделей и измерений на сканируемых поверхностях.

Наиболее часто используется для измерения шероховатостей и в микроэлектронике с разрешением по вертикали до 1 нм.

Использование конфокальной технологии позволяет быстро и точно осуществлять профилометрию поверхностей сложной формы или с крутыми наклонами до 70° без порчи образца.

Преимущественно используется с моторизованными осями X, Y, Z и антивибрационным столиком.

Задать вопрос
Ваше имя*
Компания*
Эл. почта
Телефон*
Сообщение*