Размер шрифта
Цвет фона и шрифта
Изображения
Озвучивание текста
Обычная версия сайта
Синеркон
Синеркон
Качество под контролем
+7 (495) 640-19-71
+7 (495) 640-19-71
+7 (495) 640-91-83
+7 (495) 741-59-04
E-mail
zakaz@synercon.ru

Адрес
Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
Режим работы
Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
О компании
  • О компании
  • История
  • Новости
  • Реквизиты
Оборудование
  • Портативные РФА анализаторы
  • Оптико-эмиссионные спектрометры
  • Рентгенофлуоресцентные спектрометры
  • Напольные рентгеновские спектрометры
  • Рентгеновские дифрактометры
  • Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
  • Рентгеновские толщиномеры покрытий
  • Элементный анализ CS/ONH
  • Оптические микроскопы
  • Электронные микроскопы
  • Пробоподготовка для спектрального анализа
  • Испытательные машины
  • Твердомеры
  • Металлография
  • Расходные материалы для пробоподготовки
Сервис
  • Обслуживание оборудования
    • Пусконаладочные работы
    • Обучение после внедрения оборудования
Демозал
Наши клиенты
  • Промышленность
Бренды
Контакты
0
Синеркон
+7 (495) 640-19-71
+7 (495) 640-19-71
+7 (495) 640-91-83
+7 (495) 741-59-04
E-mail
zakaz@synercon.ru

Адрес
Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
Режим работы
Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
0 Сравнение
О компании
  • О компании
  • История
  • Новости
  • Реквизиты
Оборудование
Посетите демонстрационный зал в Москве
Посетите демонстрационный зал в Москве
  • Портативные РФА анализаторы
    Портативные РФА анализаторы
  • Оптико-эмиссионные спектрометры
    Оптико-эмиссионные спектрометры
  • Рентгенофлуоресцентные спектрометры
    Рентгенофлуоресцентные спектрометры
  • Напольные рентгеновские спектрометры
    Напольные рентгеновские спектрометры
  • Рентгеновские дифрактометры
    Рентгеновские дифрактометры
  • Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
    Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
  • Рентгеновские толщиномеры покрытий
    Рентгеновские толщиномеры покрытий
  • Элементный анализ CS/ONH
    Элементный анализ CS/ONH
  • Оптические микроскопы
    Оптические микроскопы
  • Электронные микроскопы
    Электронные микроскопы
  • Пробоподготовка для спектрального анализа
    Пробоподготовка для спектрального анализа
  • Испытательные машины
    Испытательные машины
  • Твердомеры
    Твердомеры
  • Металлография
    Металлография
  • Расходные материалы для пробоподготовки
    Расходные материалы для пробоподготовки
Сервис
  • Обслуживание оборудования
    Обслуживание оборудования
Демозал
Наши клиенты
  • Промышленность
Бренды
Контакты
    Синеркон
    О компании
    • О компании
    • История
    • Новости
    • Реквизиты
    Оборудование
    Посетите демонстрационный зал в Москве
    Посетите демонстрационный зал в Москве
    • Портативные РФА анализаторы
      Портативные РФА анализаторы
    • Оптико-эмиссионные спектрометры
      Оптико-эмиссионные спектрометры
    • Рентгенофлуоресцентные спектрометры
      Рентгенофлуоресцентные спектрометры
    • Напольные рентгеновские спектрометры
      Напольные рентгеновские спектрометры
    • Рентгеновские дифрактометры
      Рентгеновские дифрактометры
    • Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
      Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
    • Рентгеновские толщиномеры покрытий
      Рентгеновские толщиномеры покрытий
    • Элементный анализ CS/ONH
      Элементный анализ CS/ONH
    • Оптические микроскопы
      Оптические микроскопы
    • Электронные микроскопы
      Электронные микроскопы
    • Пробоподготовка для спектрального анализа
      Пробоподготовка для спектрального анализа
    • Испытательные машины
      Испытательные машины
    • Твердомеры
      Твердомеры
    • Металлография
      Металлография
    • Расходные материалы для пробоподготовки
      Расходные материалы для пробоподготовки
    Сервис
    • Обслуживание оборудования
      Обслуживание оборудования
    Демозал
    Наши клиенты
    • Промышленность
    Бренды
    Контакты
      +7 (495) 640-19-71
      +7 (495) 640-91-83
      +7 (495) 741-59-04
      E-mail
      zakaz@synercon.ru

      Адрес
      Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
      Режим работы
      Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
      0
      Синеркон
      Телефоны
      +7 (495) 640-19-71
      +7 (495) 640-91-83
      +7 (495) 741-59-04
      E-mail
      zakaz@synercon.ru

      Адрес
      Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
      Режим работы
      Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
      0
      Синеркон
      • О компании
        • О компании
        • О компании
        • История
        • Новости
        • Реквизиты
      • Оборудование
        • Оборудование
        • Портативные РФА анализаторы
        • Оптико-эмиссионные спектрометры
        • Рентгенофлуоресцентные спектрометры
        • Напольные рентгеновские спектрометры
        • Рентгеновские дифрактометры
        • Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
        • Рентгеновские толщиномеры покрытий
        • Элементный анализ CS/ONH
        • Оптические микроскопы
        • Электронные микроскопы
        • Пробоподготовка для спектрального анализа
        • Испытательные машины
        • Твердомеры
        • Металлография
        • Расходные материалы для пробоподготовки
      • Сервис
        • Сервис
        • Обслуживание оборудования
          • Обслуживание оборудования
          • Пусконаладочные работы
          • Обучение после внедрения оборудования
      • Демозал
      • Наши клиенты
        • Наши клиенты
        • Промышленность
      • Бренды
      • Контакты
      • 0 Сравнение
      • +7 (495) 640-19-71
        • Телефоны
        • +7 (495) 640-19-71
        • +7 (495) 640-91-83
        • +7 (495) 741-59-04
      • Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
      • zakaz@synercon.ru

      • Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00

      Как СЭМ помогает выявлять дефекты и загрязнения в лекарственных формах

      Главная
      —
      Статьи
      —
      Электронная микроскопия
      Применение оборудования
      ФХМА
      Микроскопия
      Анализ металлов и сплавов
      Российские ГОСТы и нормы
      Международные стандарты и нормы
      —Как СЭМ помогает выявлять дефекты и загрязнения в лекарственных формах
      Как СЭМ помогает выявлять дефекты и загрязнения в лекарственных формах
      Электронная микроскопия
      10 апреля 2026
      Как настольный сканирующий электронный микроскоп используется для оценки микроструктуры, выявления дефектов покрытия и инородных включений в лекарственных средствах. На реальных примерах разбираем, как СЭМ помогает различать немедленные и пролонгированные формы таблеток, анализировать кристалломорфологию АФИ и оптимизировать технологические процессы.

      В биомедицине, где приоритетом является высокая точность анализа и неукоснительное соблюдение стандартов качества, ключевое значение приобретает объективная оценка микроструктуры, топографии поверхности, элементного распределения и фазового состава лекарственных средств. Эти параметры служат фундаментом для понимания физико-химических свойств препаратов, подтверждения их терапевтической эффективности, безопасности и воспроизводимости от партии к партии.

      Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ), обладающий разрешающей способностью на субмикронном уровне, позволяет детально изучать межфазные границы между активным фармацевтическим ингредиентом (АФИ) и вспомогательными компонентами, особенности пористой архитектуры и кристалломорфологические характеристики. Полученные данные служат основой для объяснения профилей высвобождения твердых лекарственных форм, расшифровки механизмов пролонгированного действия и рационального выбора технологических параметров. Таким образом, СЭМ выступает связующим звеном между микроструктурой и макроскопическими характеристиками препарата, обеспечивая научную поддержку при создании инновационных лекарственных форм и мониторинге их качества. 

      1. Ключевые направления применения в контроле качества лекарств

      Макроскопические свойства твердых лекарственных форм зачастую напрямую определяются особенностями их микрорельефа. Любые дефекты поверхности, инородные включения или следы загрязнений могут негативно сказаться на стабильности, скорости высвобождения и, в конечном счете, на безопасности препарата. Основная ценность СЭМ здесь заключается в его способности к высокоточному морфологическому анализу. 

      Оценка качества покрытия и выявление дефектов поверхности

      Для таблетированных форм однородность оболочки, отсутствие трещин, эффекта «апельсиновой корки» или отслоений — важнейшие критерии технологического совершенства. Использование СЭМ в режиме анализа поперечных срезов позволяет количественно оценить толщину покрытия, изучить адгезию между оболочкой и ядром, а также выявить внутреннюю пористость. Например, для кишечнорастворимых таблеток целостность покрытия является определяющим фактором, обеспечивающим прохождение через желудок и последующее высвобождение в тонком кишечнике.

      Идентификация инородных включений и контаминантов.

      Микроскопические частицы металла, фрагменты полимеров, текстильные волокна — подобные загрязнения, попадающие в продукт в ходе производства, представляют собой серьезную угрозу для качества. 

      Высокое разрешение СЭМ позволяет не только локализовать такие включения, но и определить их морфологию, что критически важно для установления источника контаминации. 

      Так, при плановой проверке качества капсул с сульфатом глюкозамина с помощью оптического микроскопа были обнаружены мелкие дефекты на поверхности. Последующий анализ на СЭМ при высоком увеличении выявил микротрещины и прикрепленные пластинчатые частицы неправильной формы (рис. 1а). Морфология трещин указывала на их возможное происхождение в результате коррозии под напряжением, связанной с неравномерной сушкой покрытия и релаксацией полимерных напряжений. Инородные частицы по своей структуре (рис. 1b — чистая поверхность) отличались от матрицы капсулы. 

      Сопоставление с типичными микроорганизмами позволило исключить биологическую природу загрязнения; наиболее вероятным источником была признана неорганическая пыль из производственной среды или вспомогательных веществ. Эти данные послужили основой для корректировки режимов нанесения покрытия и ужесточения контроля чистоты в производственных помещениях.

      Снимок со сканирующего электронного микроскопа LANSEM 30

       

      Снимок со сканирующего электронного микроскопа LANSEM 30

      Рис. 1а — Поверхность капсулы с сульфатом глюкозамина: визуализированы пластинчатые включения и микротрещины; загрязнения проникают в трещины. Изображения получены с помощью микроскопа LANSEM 30.

      Снимок со сканирующего электронного микроскопа LANSEM 30

      Рис. 1b — Фрагмент неповрежденной поверхности капсулы (без загрязнений). Изображение получено с помощью LANSEM 30.  

      2. Преимущества метода при исследовании микроструктуры фармацевтических субстанций и готовых форм

      Микроструктурные параметры – кристалломорфология, поровое пространство, характер распределения компонентов – напрямую влияют на скорость растворения и, следовательно, на биодоступность. СЭМ предоставляет уникальные возможности для изучения этих параметров.

      Анализ активных фармацевтических ингредиентов.

      Метод позволяет наглядно дифференцировать полиморфные модификации одного и того же вещества, которые могут различаться по растворимости и стабильности. Длительное наблюдение за АФИ в различных условиях с помощью СЭМ помогает оценить стабильность полиморфной формы и обосновать выбор состава и технологии. 

      Исследование сложных лекарственных форм.

      Для систем с модифицированным высвобождением СЭМ раскрывает взаимосвязь между внутренней архитектурой и кинетикой высвобождения. Например, хлорид калия в исходном состоянии характеризуется кубической кристаллической решеткой (рис. 2а). 

      При разработке таблеток с пролонгированным высвобождением на основе гидроксипропилметилцеллюлозы (ГПМЦ) методом СЭМ было установлено, что измельченные частицы хлорида калия (сохраняющие фрагменты кубической формы) равномерно распределены и прочно связаны непрерывной гелевой матрицей ГПМЦ. Граница раздела фаз характеризуется хорошей адгезией, структура отличается плотностью и низкой пористостью (рис. 2b). Такая плотная упаковка замедляет проникновение жидкости и обеспечивает диффузионно-контролируемое высвобождение, что согласуется с моделью Хигучи – математическим уравнением, описывающим высвобождение лекарственного вещества из твердой матричной системы. 

      Другой пример — сравнительный анализ таблеток метформина с немедленным и пролонгированным высвобождением. СЭМ-изображения показывают, что немедленная форма имеет рыхлую структуру: между частицами АФИ и вспомогательными веществами присутствуют многочисленные поры и слабые контакты, что способствует быстрому проникновению растворителя и ускоренному растворению (рис. 3а). 

      Напротив, в пролонгированной форме частицы АФИ инкапсулированы плотной трехмерной гелевой сеткой полимера (рис. 3b), которая удлиняет путь диффузии и увеличивает сопротивление массопереносу. Выявленные структурные различия напрямую объясняют разницу в фармакокинетических профилях.

      Снимок со сканирующего электронного микроскопа LANSEM 30

      Рис. 2а — Кубические кристаллы хлорида калия.

      Снимок со сканирующего электронного микроскопа LANSEM 30

      Рис. 2b — Таблетка хлорида калия с пролонгированным высвобождением: частицы АФИ (сохранившие части кубической огранки) интегрированы в плотную гелевую матрицу ГПМЦ. Изображение получено с помощью СЭМ LANSEM 30.  

      Снимок со сканирующего электронного микроскопа LANSEM 30

      Рис. 3а — Таблетка метформина с немедленным высвобождением: рыхлая упаковка, развитая пористость. Изображение получено с помощью LANSEM 30. 

      Снимок со сканирующего электронного микроскопа LANSEM 30

      Рис. 3b — Таблетка метформина с пролонгированным высвобождением: частицы АФИ заключены в непрерывную плотную полимерную сеть. Изображение получено с помощью микроскопа LANSEM 30.  

      3. Поддержка при оптимизации технологических процессов 

      В современной фармацевтической парадигме «качество закладывается при разработке» (Quality by Design, QbD) СЭМ выступает инструментом, предоставляющим наглядные микроструктурные доказательства для обоснования технологических решений. 

      Инженерия частиц.

      С помощью настольного сканирующего микроскопа (СЭМ) можно детально охарактеризовать распределение частиц по размерам, их форму и состояние поверхности как для АФИ, так и для вспомогательных веществ. Эти параметры непосредственно влияют на сыпучесть, прессуемость и однородность смеси, а следовательно, относятся к критическим атрибутам качества, подлежащим строгому контролю. 

      На примере гранул витамина B1 и детских гранул парацетамола + хлорфенирамина малеата СЭМ позволяет визуализировать различия в морфологии. Гранулы витамина B1 характеризуются узким распределением по размерам и сферической формой, что свидетельствует о корректно подобранных параметрах распылительной сушки и обеспечивает хорошую сыпучесть (рис. 4). 

      В случае детских гранул при увеличении обнаруживаются нитевидные структуры, прочно прикрепленные к поверхности (рис. 5). Подобные образования могут возникать из-за неоптимальной скорости испарения растворителя, вызывающей миграцию и кристаллизацию компонентов. Полученные микрофотографии дают четкое направление для совершенствования режима сушки. 

      Разработка систем доставки.

      Вне зависимости от типа — микросферы, наночастицы или сложные композиты — СЭМ обеспечивает детальную визуализацию их морфологии, необходимую для понимания механизмов действия и оптимизации получения. 

      Таким образом, сканирующая электронная микроскопия является незаменимым инструментом на всех этапах жизненного цикла лекарственного средства: от изучения субстанции и разработки состава до контроля производства и оценки качества. 

      Информация о морфологии, получаемая с помощью СЭМ, служит надежной основой для рационального конструирования препаратов и повышения их эффективности и безопасности. По мере ужесточения требований к качеству фармацевтической продукции роль сканирующих электронных микроскопов (СЭМ) будет только возрастать, открывая новые возможности для разработки и контроля современных лекарственных форм.

      Снимок со сканирующего электронного микроскопа LANSEM 30

      Рис. 4 — Гранулы тиамина (витамин B1): однородные, сферические, демонстрируют хорошую сыпучесть. Изображение получено с помощью LANSEM 30.  

      Снимок со сканирующего электронного микроскопа LANSEM 30

      Рис. 5 — Детские гранулы парацетамола и хлорфенирамина малеата: на поверхности видны нитевидные структуры, образовавшиеся в процессе сушки. Изображение получено с помощью LANSEM 30.  

      Компания «СИНЕРКОН» успешно внедряет современные настольные сканирующие электронные микроскопы, предлагая лабораториям и производственным предприятиям комплексное решение для высокоточного микроструктурного и элементного анализа. Мы обеспечиваем полное методическое и техническое сопровождение: от предварительного подбора конфигурации и пусконаладочных работ до профессионального обучения специалистов. 

      В демонстрационном зале «СИНЕРКОН» установлен действующий настольный СЭМ, где по предварительной записи вы можете протестировать собственные образцы и лично убедиться в том, что оборудование эффективно решает ваши аналитические задачи. Благодаря оптимизированной логистике и наличию оборудования на складе мы гарантируем быстрые сроки поставки и оперативное внедрение микроскопов в рабочий процесс. 

      Дополнительно компания предоставляет расширенное гарантийное и квалифицированное постгарантийное обслуживание, включая оперативную техническую поддержку и поставку расходных материалов, что позволяет нашим клиентам сосредоточиться на исследованиях, будучи уверенными в стабильной работе оборудования на протяжении всего жизненного цикла.

      Оборудование
      В демозале
      Настольный сканирующий электронный микроскоп LANSEM 30
      Настольные сканирующие электронные микроскопы
      Настольный сканирующий электронный микроскоп LANSEM 30
      Назад к списку
      • Применение оборудования 11
      • ФХМА 5
      • Микроскопия 3
      • Электронная микроскопия 4
      • Анализ металлов и сплавов 18
      ИСП-ОЭС ФХМА
      Компания
      О компании
      История
      Новости
      Реквизиты
      Каталог
      Портативные РФА анализаторы
      Оптико-эмиссионные спектрометры
      Рентгенофлуоресцентные спектрометры
      Напольные рентгеновские спектрометры
      Рентгеновские дифрактометры
      Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
      Рентгеновские толщиномеры покрытий
      Элементный анализ CS/ONH
      Оптические микроскопы
      Электронные микроскопы
      Пробоподготовка для спектрального анализа
      Испытательные машины
      Твердомеры
      Металлография
      Расходные материалы для пробоподготовки
      Услуги
      Обслуживание оборудования
      Статьи
      Бренды
      Контакты
      +7 (495) 640-19-71
      +7 (495) 640-19-71
      +7 (495) 640-91-83
      +7 (495) 741-59-04
      E-mail
      zakaz@synercon.ru

      Адрес
      Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
      Режим работы
      Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
      zakaz@synercon.ru

      Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
      © 2026 Синеркон: Качество под контролем.
      Политика конфиденциальности