Размер шрифта
Цвет фона и шрифта
Изображения
Озвучивание текста
Обычная версия сайта
Синеркон
Синеркон
Качество под контролем
+7 (495) 640-19-71
+7 (495) 640-19-71
+7 (495) 640-91-83
+7 (495) 741-59-04
E-mail
zakaz@synercon.ru

Адрес
Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
Режим работы
Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
О компании
  • О компании
  • История
  • Новости
  • Реквизиты
Оборудование
  • Портативные РФА анализаторы
  • Оптико-эмиссионные спектрометры
  • Рентгенофлуоресцентные спектрометры
  • Напольные рентгеновские спектрометры
  • Рентгеновские дифрактометры
  • Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
  • Рентгеновские толщиномеры покрытий
  • Элементный анализ CS/ONH
  • Оптические микроскопы
  • Электронные микроскопы
  • Пробоподготовка для спектрального анализа
  • Испытательные машины
  • Твердомеры
  • Металлография
  • Расходные материалы для пробоподготовки
Сервис
  • Обслуживание оборудования
    • Пусконаладочные работы
    • Обучение после внедрения оборудования
Демозал
Наши клиенты
  • Промышленность
Бренды
Контакты
0
Синеркон
+7 (495) 640-19-71
+7 (495) 640-19-71
+7 (495) 640-91-83
+7 (495) 741-59-04
E-mail
zakaz@synercon.ru

Адрес
Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
Режим работы
Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
0 Сравнение
О компании
  • О компании
  • История
  • Новости
  • Реквизиты
Оборудование
Демозал в Москве
Посетите демонстрационный зал в Москве
  • Портативные РФА анализаторы
    Портативные РФА анализаторы
  • Оптико-эмиссионные спектрометры
    Оптико-эмиссионные спектрометры
  • Рентгенофлуоресцентные спектрометры
    Рентгенофлуоресцентные спектрометры
  • Напольные рентгеновские спектрометры
    Напольные рентгеновские спектрометры
  • Рентгеновские дифрактометры
    Рентгеновские дифрактометры
  • Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
    Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
  • Рентгеновские толщиномеры покрытий
    Рентгеновские толщиномеры покрытий
  • Элементный анализ CS/ONH
    Элементный анализ CS/ONH
  • Оптические микроскопы
    Оптические микроскопы
  • Электронные микроскопы
    Электронные микроскопы
  • Пробоподготовка для спектрального анализа
    Пробоподготовка для спектрального анализа
  • Испытательные машины
    Испытательные машины
  • Твердомеры
    Твердомеры
  • Металлография
    Металлография
  • Расходные материалы для пробоподготовки
    Расходные материалы для пробоподготовки
Сервис
  • Обслуживание оборудования
    Обслуживание оборудования
Демозал
Наши клиенты
  • Промышленность
Бренды
Контакты
    Синеркон
    О компании
    • О компании
    • История
    • Новости
    • Реквизиты
    Оборудование
    Демозал в Москве
    Посетите демонстрационный зал в Москве
    • Портативные РФА анализаторы
      Портативные РФА анализаторы
    • Оптико-эмиссионные спектрометры
      Оптико-эмиссионные спектрометры
    • Рентгенофлуоресцентные спектрометры
      Рентгенофлуоресцентные спектрометры
    • Напольные рентгеновские спектрометры
      Напольные рентгеновские спектрометры
    • Рентгеновские дифрактометры
      Рентгеновские дифрактометры
    • Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
      Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
    • Рентгеновские толщиномеры покрытий
      Рентгеновские толщиномеры покрытий
    • Элементный анализ CS/ONH
      Элементный анализ CS/ONH
    • Оптические микроскопы
      Оптические микроскопы
    • Электронные микроскопы
      Электронные микроскопы
    • Пробоподготовка для спектрального анализа
      Пробоподготовка для спектрального анализа
    • Испытательные машины
      Испытательные машины
    • Твердомеры
      Твердомеры
    • Металлография
      Металлография
    • Расходные материалы для пробоподготовки
      Расходные материалы для пробоподготовки
    Сервис
    • Обслуживание оборудования
      Обслуживание оборудования
    Демозал
    Наши клиенты
    • Промышленность
    Бренды
    Контакты
      +7 (495) 640-19-71
      +7 (495) 640-91-83
      +7 (495) 741-59-04
      E-mail
      zakaz@synercon.ru

      Адрес
      Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
      Режим работы
      Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
      0
      Синеркон
      Телефоны
      +7 (495) 640-19-71
      +7 (495) 640-91-83
      +7 (495) 741-59-04
      E-mail
      zakaz@synercon.ru

      Адрес
      Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
      Режим работы
      Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
      0
      Синеркон
      • О компании
        • О компании
        • О компании
        • История
        • Новости
        • Реквизиты
      • Оборудование
        • Оборудование
        • Портативные РФА анализаторы
        • Оптико-эмиссионные спектрометры
        • Рентгенофлуоресцентные спектрометры
        • Напольные рентгеновские спектрометры
        • Рентгеновские дифрактометры
        • Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
        • Рентгеновские толщиномеры покрытий
        • Элементный анализ CS/ONH
        • Оптические микроскопы
        • Электронные микроскопы
        • Пробоподготовка для спектрального анализа
        • Испытательные машины
        • Твердомеры
        • Металлография
        • Расходные материалы для пробоподготовки
      • Сервис
        • Сервис
        • Обслуживание оборудования
          • Обслуживание оборудования
          • Пусконаладочные работы
          • Обучение после внедрения оборудования
      • Демозал
      • Наши клиенты
        • Наши клиенты
        • Промышленность
      • Бренды
      • Контакты
      • 0 Сравнение
      • +7 (495) 640-19-71
        • Телефоны
        • +7 (495) 640-19-71
        • +7 (495) 640-91-83
        • +7 (495) 741-59-04
      • Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
      • zakaz@synercon.ru

      • Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00

      Сканирующая электронная микроскопия зубов и костной ткани: от пробоподготовки до микроанализа

      Главная
      —
      Статьи
      —
      Электронная микроскопия
      Применение оборудования
      ФХМА
      Микроскопия
      Анализ металлов и сплавов
      Физико-механические испытания
      Российские ГОСТы и нормы
      Международные стандарты и нормы
      —Сканирующая электронная микроскопия зубов и костной ткани: от пробоподготовки до микроанализа
      Сканирующая электронная микроскопия зубов и костной ткани: от пробоподготовки до микроанализа
      Электронная микроскопия
      5 ноября 2026
      Прецизионная подготовка сечений зубов человека и исследование на настольном СЭМ LANSEM 30.

      Твёрдые ткани зуба — сложная биологическая система, в которой особенности микроструктуры связаны с механическими свойствами, минерализацией и устойчивостью к внешним воздействиям. Для их исследования недостаточно только оптической микроскопии: многие структурные изменения становятся различимы лишь при значительно большем увеличении.

      Сканирующая электронная микроскопия (СЭМ) позволяет детально изучать эмалевые призмы, дентинные канальцы, цемент корня, микротрещины и границы раздела тканей. В сочетании с энергодисперсионной рентгеновской спектроскопией (ЭДС/EDS) она предоставляет информацию об элементном составе исследуемых участков.

      При этом достоверность результатов во многом зависит от качества пробоподготовки.

      Прецизионная пробоподготовка зубов

      При исследовании удалённых зубов важно сохранить исходную структуру твёрдых тканей и получить доступ к интересующим анатомическим областям. Для подготовки продольных и поперечных сечений используется прецизионный отрезной станок FERCUT H20 с алмазным отрезным диском.

      Общий вид Прецизионного отрезного станка FERCUT H20

      Рис. 1. Общий вид Прецизионного отрезного станка FERCUT H20

      Процесс прецизионного пробоотбора

      Рис. 2. Процесс прецизионного пробоотбора

      Контролируемая резка с охлаждением снижает риск перегрева и сколов. Продольные срезы раскрывают систему корневых каналов, а поперечные позволяют сравнивать строение дентина в корональной, средней и апикальной третях корня. Особый интерес представляет апикальная область с её сложной анатомией: апикальной дельтой, дополнительными каналами и ответвлениями.

      Для фиксации хрупких фрагментов и заполнения открытых пор при необходимости применяется система вакуумной импрегнации FERPRESS CVS. Использование полимерных компаундов повышает стабильность образцов при последующей обработке и помогает сохранить геометрию исследуемых участков.

      Общий вид Вакуумной системы для холодной заливки образцов FERPRESS CVS

      Рис. 3. Общий вид Вакуумной системы для холодной заливки образцов FERPRESS CVS

      Образцы зубов залитые в холодную смолу

      Рис. 4. Образцы зубов залитые в холодную смолу

      Следующий этап — автоматическая шлифовка и полировка на FERPOL 401 с системой контроля снятия материала. Управляемая обработка позволяет задавать величину съёма, снижать шероховатость и получать плоские полированные шлифы. Качество поверхности особенно важно при изучении дентино-эмалевой границы, состояния дентинных канальцев и контакта зубных тканей со стоматологическими материалами.

      Общий вид Автоматического шлифовально-полировального станка FERPOL 401

      Рис. 5. Общий вид Автоматического шлифовально-полировального станка FERPOL 401

      Процесс прецизионного снятия материала путем тонкого шлифования на станке FERPOL 401

      Рис. 6. Процесс прецизионного снятия материала путем тонкого шлифования на станке FERPOL 401

      Исследование зубных тканей на СЭМ LANSEM 30

      Подготовленные образцы исследуются на настольном сканирующем электронном микроскопе LANSEM 30, оснащённом детекторами вторичных (SE) и обратнорассеянных (BSE) электронов, а также системой элементного анализа ЭДС.

      Общий вид Настольного сканирующего электронного микроскопа LANSEM 30 с системой EDS

      Рис. 7. Общий вид Настольного сканирующего электронного микроскопа LANSEM 30 с системой EDS

      Микроскоп позволяет изучать морфологию поверхности, выявлять микроструктурные неоднородности и определять элементный состав локальных участков.

      Примеры изображений костной ткани зуба, полученных на LANSEM 30

      Рис. 8. Примеры изображений костной ткани зуба, полученных на LANSEM 30

      На полученных СЭМ-изображениях сечений зубов человека наблюдаются области с различной морфологией, развитой пористостью, полостями и трещинами. Для их интерпретации результаты сопоставляют с анатомическим расположением участка и условиями подготовки образца.

      Элементный анализ в точке с помощью энергодисперсионного детектора

      Рис. 9. Элементный анализ в точке с помощью энергодисперсионного детектора

      Энергодисперсионный анализ дополняет микроскопические наблюдения возможностью определения и картирования кальция (Ca), фосфора (P) и других элементов минеральной составляющей зубных тканей. Сочетание СЭМ и ЭДС востребовано при изучении процессов деминерализации и реминерализации, исследовании стоматологических цементов, эндодонтических материалов и адгезивных соединений.

      От стоматологии до исследований костной ткани

      Аналогичный подход к пробоподготовке и электронно-микроскопическому анализу применяется при исследовании минерализованных тканей челюстно-лицевой области. СЭМ используют для изучения кортикальной и губчатой костной ткани, костных трабекул, остеонной структуры, пористости костных заместителей и границ контакта биоматериалов с костной тканью.

      Такие исследования актуальны для челюстно-лицевой хирургии, имплантологии, регенеративной стоматологии и разработки остеопластических материалов.

      Комплексное решение для стоматологических исследований

      Прецизионная резка FERCUT H20, вакуумная импрегнация FERPRESS CVS, автоматическая шлифовка и полировка FERPOL 401 и электронно-микроскопический анализ на LANSEM 30 формируют технологическую цепочку для исследования твёрдых тканей зубов и других минерализованных биоматериалов.

      Компания «СИНЕРКОН» предлагает комплексные решения для научных лабораторий, стоматологических исследовательских центров, медицинских университетов и институтов челюстно-лицевой хирургии.

      Хотите оценить возможности сканирующей электронной микроскопии на собственных образцах? Специалисты «СИНЕРКОН» помогут подобрать методику пробоподготовки и провести демонстрационное исследование на оборудовании компании.

      Записаться в демозал

      Оборудование
      В демозале
      Настольный СЭМ LANSEM 30
      Настольные сканирующие электронные микроскопы
      Настольный СЭМ LANSEM 30
      В демозале
      Металлографический шлифовальный полировальный станок FERPOL 401
      Автоматические станки
      Металлографический шлифовальный полировальный станок FERPOL 401
      Назад к списку
      • Применение оборудования 11
      • ФХМА 7
      • Микроскопия 3
      • Электронная микроскопия 6
      • Анализ металлов и сплавов 18
      • Физико-механические испытания 2
      ИСП-ОЭС ФХМА
      Компания
      О компании
      История
      Новости
      Реквизиты
      Каталог
      Портативные РФА анализаторы
      Оптико-эмиссионные спектрометры
      Рентгенофлуоресцентные спектрометры
      Напольные рентгеновские спектрометры
      Рентгеновские дифрактометры
      Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
      Рентгеновские толщиномеры покрытий
      Элементный анализ CS/ONH
      Оптические микроскопы
      Электронные микроскопы
      Пробоподготовка для спектрального анализа
      Испытательные машины
      Твердомеры
      Металлография
      Расходные материалы для пробоподготовки
      Услуги
      Обслуживание оборудования
      Статьи
      Бренды
      Контакты
      +7 (495) 640-19-71
      +7 (495) 640-19-71
      +7 (495) 640-91-83
      +7 (495) 741-59-04
      E-mail
      zakaz@synercon.ru

      Адрес
      Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
      Режим работы
      Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
      zakaz@synercon.ru

      Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
      © 2026 Синеркон: Качество под контролем.
      Политика обработки персональных данных ООО «Синеркон»
      Согласие на обработку персональных данных