Размер шрифта
Цвет фона и шрифта
Изображения
Озвучивание текста
Обычная версия сайта
Синеркон
Синеркон
Качество под контролем
+7 (495) 640-19-71
+7 (495) 640-19-71
+7 (495) 640-91-83
+7 (495) 741-59-04
E-mail
zakaz@synercon.ru

Адрес
Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
Режим работы
Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
О компании
  • О компании
  • История
  • Новости
  • Реквизиты
Оборудование
  • Портативные РФА анализаторы
  • Оптико-эмиссионные спектрометры
  • Рентгенофлуоресцентные спектрометры
  • Напольные рентгеновские спектрометры
  • Рентгеновские дифрактометры
  • Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
  • Рентгеновские толщиномеры покрытий
  • Элементный анализ CS/ONH
  • Оптические микроскопы
  • Электронные микроскопы
  • Пробоподготовка для спектрального анализа
  • Испытательные машины
  • Твердомеры
  • Металлография
  • Расходные материалы для пробоподготовки
Сервис
  • Обслуживание оборудования
    • Пусконаладочные работы
    • Обучение после внедрения оборудования
Демозал
Наши клиенты
  • Промышленность
Бренды
Контакты
0
Синеркон
+7 (495) 640-19-71
+7 (495) 640-19-71
+7 (495) 640-91-83
+7 (495) 741-59-04
E-mail
zakaz@synercon.ru

Адрес
Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
Режим работы
Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
0 Сравнение
О компании
  • О компании
  • История
  • Новости
  • Реквизиты
Оборудование
Посетите демонстрационный зал в Москве
Посетите демонстрационный зал в Москве
14 января 2025
Демонстрация оборудования на вашем объекте в реальных условиях
Демонстрация оборудования на вашем объекте в реальных условиях
16 января 2025
  • Портативные РФА анализаторы
    Портативные РФА анализаторы
  • Оптико-эмиссионные спектрометры
    Оптико-эмиссионные спектрометры
  • Рентгенофлуоресцентные спектрометры
    Рентгенофлуоресцентные спектрометры
  • Напольные рентгеновские спектрометры
    Напольные рентгеновские спектрометры
  • Рентгеновские дифрактометры
    Рентгеновские дифрактометры
  • Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
    Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
  • Рентгеновские толщиномеры покрытий
    Рентгеновские толщиномеры покрытий
  • Элементный анализ CS/ONH
    Элементный анализ CS/ONH
  • Оптические микроскопы
    Оптические микроскопы
  • Электронные микроскопы
    Электронные микроскопы
  • Пробоподготовка для спектрального анализа
    Пробоподготовка для спектрального анализа
  • Испытательные машины
    Испытательные машины
  • Твердомеры
    Твердомеры
  • Металлография
    Металлография
  • Расходные материалы для пробоподготовки
    Расходные материалы для пробоподготовки
Сервис
  • Обслуживание оборудования
    Обслуживание оборудования
Демозал
Наши клиенты
  • Промышленность
Бренды
Контакты
    Синеркон
    О компании
    • О компании
    • История
    • Новости
    • Реквизиты
    Оборудование
    Посетите демонстрационный зал в Москве
    Посетите демонстрационный зал в Москве
    14 января 2025
    Демонстрация оборудования на вашем объекте в реальных условиях
    Демонстрация оборудования на вашем объекте в реальных условиях
    16 января 2025
    • Портативные РФА анализаторы
      Портативные РФА анализаторы
    • Оптико-эмиссионные спектрометры
      Оптико-эмиссионные спектрометры
    • Рентгенофлуоресцентные спектрометры
      Рентгенофлуоресцентные спектрометры
    • Напольные рентгеновские спектрометры
      Напольные рентгеновские спектрометры
    • Рентгеновские дифрактометры
      Рентгеновские дифрактометры
    • Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
      Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
    • Рентгеновские толщиномеры покрытий
      Рентгеновские толщиномеры покрытий
    • Элементный анализ CS/ONH
      Элементный анализ CS/ONH
    • Оптические микроскопы
      Оптические микроскопы
    • Электронные микроскопы
      Электронные микроскопы
    • Пробоподготовка для спектрального анализа
      Пробоподготовка для спектрального анализа
    • Испытательные машины
      Испытательные машины
    • Твердомеры
      Твердомеры
    • Металлография
      Металлография
    • Расходные материалы для пробоподготовки
      Расходные материалы для пробоподготовки
    Сервис
    • Обслуживание оборудования
      Обслуживание оборудования
    Демозал
    Наши клиенты
    • Промышленность
    Бренды
    Контакты
      +7 (495) 640-19-71
      +7 (495) 640-91-83
      +7 (495) 741-59-04
      E-mail
      zakaz@synercon.ru

      Адрес
      Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
      Режим работы
      Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
      0
      Синеркон
      Телефоны
      +7 (495) 640-19-71
      +7 (495) 640-91-83
      +7 (495) 741-59-04
      E-mail
      zakaz@synercon.ru

      Адрес
      Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
      Режим работы
      Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
      0
      Синеркон
      • О компании
        • О компании
        • О компании
        • История
        • Новости
        • Реквизиты
      • Оборудование
        • Оборудование
        • Портативные РФА анализаторы
        • Оптико-эмиссионные спектрометры
        • Рентгенофлуоресцентные спектрометры
        • Напольные рентгеновские спектрометры
        • Рентгеновские дифрактометры
        • Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
        • Рентгеновские толщиномеры покрытий
        • Элементный анализ CS/ONH
        • Оптические микроскопы
        • Электронные микроскопы
        • Пробоподготовка для спектрального анализа
        • Испытательные машины
        • Твердомеры
        • Металлография
        • Расходные материалы для пробоподготовки
      • Сервис
        • Сервис
        • Обслуживание оборудования
          • Обслуживание оборудования
          • Пусконаладочные работы
          • Обучение после внедрения оборудования
      • Демозал
      • Наши клиенты
        • Наши клиенты
        • Промышленность
      • Бренды
      • Контакты
      • 0 Сравнение
      • +7 (495) 640-19-71
        • Телефоны
        • +7 (495) 640-19-71
        • +7 (495) 640-91-83
        • +7 (495) 741-59-04
      • Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
      • zakaz@synercon.ru

      • Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00

      Микроскопы для микроэлектроники

      5
      Главная
      —
      Оборудование
      —
      Оптические микроскопы
      Портативные РФА анализаторы
      Оптико-эмиссионные спектрометры
      Рентгенофлуоресцентные спектрометры
      Напольные рентгеновские спектрометры
      Рентгеновские дифрактометры
      Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
      Рентгеновские толщиномеры покрытий
      Элементный анализ CS/ONH
      Электронные микроскопы
      Пробоподготовка для спектрального анализа
      Испытательные машины
      Твердомеры
      Металлография
      Расходные материалы для пробоподготовки
      —
      Инспекционные микроскопы
      Биологические микроскопы
      Металлографические микроскопы
      Стереомикроскопы
      Измерительные микроскопы
      Криминалистические микроскопы
      Цифровые микроскопы
      Геологические микроскопы
      Портативные микроскопы
      Конфокальные микроскопы
      Программное обеспечение автоматизированного анализа
      —
      Микроскопы для микроэлектроники
      Фильерные инспекционные микроскопы
      Фильтр
      По популярности (возрастание)
      По наименованию (А-Я)
      По наименованию (Я-А)
      По популярности (возрастание)
      По популярности (убывание)
      Фильтр
      Прямой исследовательский инспекционный микроскоп Leica DM3 XL Прямой исследовательский инспекционный микроскоп Leica DM3 XL Прямой исследовательский инспекционный микроскоп Leica DM3 XL Прямой исследовательский инспекционный микроскоп Leica DM3 XL
      Микроскопы для микроэлектроники
      Прямой исследовательский инспекционный микроскоп Leica DM3 XL
      Микроскоп Leica DM3 XL предназначен для контроля качества в области микроэлектроники, в том числе кремниевых пластин. 
      Прямой исследовательский микроскоп ICOE HEX 10E
      Микроскопы для микроэлектроники
      Прямой исследовательский микроскоп ICOE HEX 10E
      Прямой исследовательский микроскоп Olympus MX63 / MX63L
      Микроскопы для микроэлектроники
      Прямой исследовательский микроскоп Olympus MX63 / MX63L
      Промышленные микроскопы Olympus MX63/MX63L – инновационные решения для контроля крупногабаритных образцов.
      Прямой исследовательский инспекционный микроскоп SOPTOP MX12R Прямой исследовательский инспекционный микроскоп SOPTOP MX12R Прямой исследовательский инспекционный микроскоп SOPTOP MX12R
      Микроскопы для микроэлектроники
      Прямой исследовательский инспекционный микроскоп SOPTOP MX12R
      Инспекционный микроскоп MX12R предназначен для изучения материалов и компонентов, которые широко используются в микроэлектронике: полупроводников, кремниевых пластин, кристаллов, устройств хранения информации, ЖК-дисплеев, MEMS-компонентов (микроэлектромеханических схем), светодиодов и многого другого.
      Прямой исследовательский микроскоп NIKON ECLIPSE L200N, L200ND
      Микроскопы для микроэлектроники
      Прямой исследовательский микроскоп NIKON ECLIPSE L200N, L200ND
      Инспекционные микроскопы Nikon Eclips – высокоточный контроль качества в микроэлектронике, сочетает передовую оптику, модульную конструкцию и автоматизацию, обеспечивая надежность и точность в задачах промышленного контроля.
      Каталог
      • Портативные РФА анализаторы
      • Оптико-эмиссионные спектрометры
      • Рентгенофлуоресцентные спектрометры
      • Напольные рентгеновские спектрометры
      • Рентгеновские дифрактометры
      • Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
      • Рентгеновские толщиномеры покрытий
      • Элементный анализ CS/ONH
      • Оптические микроскопы
      • Электронные микроскопы
      • Пробоподготовка для спектрального анализа
      • Испытательные машины
      • Твердомеры
      • Металлография
      • Расходные материалы для пробоподготовки
      Компания «СИНЕРКОН» уже более 18 лет занимает лидирующие позиции на рынке аналитического и измерительного оборудования в России и странах СНГ.
      Компания
      О компании
      История
      Новости
      Реквизиты
      Каталог
      Портативные РФА анализаторы
      Оптико-эмиссионные спектрометры
      Рентгенофлуоресцентные спектрометры
      Напольные рентгеновские спектрометры
      Рентгеновские дифрактометры
      Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
      Рентгеновские толщиномеры покрытий
      Элементный анализ CS/ONH
      Оптические микроскопы
      Электронные микроскопы
      Пробоподготовка для спектрального анализа
      Испытательные машины
      Твердомеры
      Металлография
      Расходные материалы для пробоподготовки
      Услуги
      Обслуживание оборудования
      Статьи
      Бренды
      Контакты
      +7 (495) 640-19-71
      +7 (495) 640-19-71
      +7 (495) 640-91-83
      +7 (495) 741-59-04
      E-mail
      zakaz@synercon.ru

      Адрес
      Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
      Режим работы
      Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
      zakaz@synercon.ru

      Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
      © 2026 Синеркон: Качество под контролем.
      Политика конфиденциальности