Размер шрифта
Цвет фона и шрифта
Изображения
Озвучивание текста
Обычная версия сайта
Синеркон
Синеркон
Качество под контролем
+7 (495) 640-19-71
+7 (495) 640-19-71
+7 (495) 640-91-83
+7 (495) 741-59-04
E-mail
zakaz@synercon.ru

Адрес
Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
Режим работы
Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
О компании
  • О компании
  • История
  • Новости
  • Реквизиты
Оборудование
  • Портативные РФА анализаторы
  • Оптико-эмиссионные спектрометры
  • Рентгенофлуоресцентные спектрометры
  • Напольные рентгеновские спектрометры
  • Рентгеновские дифрактометры
  • Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
  • Рентгеновские толщиномеры покрытий
  • Элементный анализ CS/ONH
  • Оптические микроскопы
  • Электронные микроскопы
  • Пробоподготовка для спектрального анализа
  • Испытательные машины
  • Твердомеры
  • Металлография
  • Расходные материалы для пробоподготовки
Сервис
  • Обслуживание оборудования
    • Пусконаладочные работы
    • Обучение после внедрения оборудования
Демозал
Наши клиенты
  • Промышленность
Бренды
Контакты
0
Синеркон
+7 (495) 640-19-71
+7 (495) 640-19-71
+7 (495) 640-91-83
+7 (495) 741-59-04
E-mail
zakaz@synercon.ru

Адрес
Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
Режим работы
Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
0 Сравнение
О компании
  • О компании
  • История
  • Новости
  • Реквизиты
Оборудование
Демозал в Москве
Посетите демонстрационный зал в Москве
  • Портативные РФА анализаторы
    Портативные РФА анализаторы
  • Оптико-эмиссионные спектрометры
    Оптико-эмиссионные спектрометры
  • Рентгенофлуоресцентные спектрометры
    Рентгенофлуоресцентные спектрометры
  • Напольные рентгеновские спектрометры
    Напольные рентгеновские спектрометры
  • Рентгеновские дифрактометры
    Рентгеновские дифрактометры
  • Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
    Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
  • Рентгеновские толщиномеры покрытий
    Рентгеновские толщиномеры покрытий
  • Элементный анализ CS/ONH
    Элементный анализ CS/ONH
  • Оптические микроскопы
    Оптические микроскопы
  • Электронные микроскопы
    Электронные микроскопы
  • Пробоподготовка для спектрального анализа
    Пробоподготовка для спектрального анализа
  • Испытательные машины
    Испытательные машины
  • Твердомеры
    Твердомеры
  • Металлография
    Металлография
  • Расходные материалы для пробоподготовки
    Расходные материалы для пробоподготовки
Сервис
  • Обслуживание оборудования
    Обслуживание оборудования
Демозал
Наши клиенты
  • Промышленность
Бренды
Контакты
    Синеркон
    О компании
    • О компании
    • История
    • Новости
    • Реквизиты
    Оборудование
    Демозал в Москве
    Посетите демонстрационный зал в Москве
    • Портативные РФА анализаторы
      Портативные РФА анализаторы
    • Оптико-эмиссионные спектрометры
      Оптико-эмиссионные спектрометры
    • Рентгенофлуоресцентные спектрометры
      Рентгенофлуоресцентные спектрометры
    • Напольные рентгеновские спектрометры
      Напольные рентгеновские спектрометры
    • Рентгеновские дифрактометры
      Рентгеновские дифрактометры
    • Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
      Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
    • Рентгеновские толщиномеры покрытий
      Рентгеновские толщиномеры покрытий
    • Элементный анализ CS/ONH
      Элементный анализ CS/ONH
    • Оптические микроскопы
      Оптические микроскопы
    • Электронные микроскопы
      Электронные микроскопы
    • Пробоподготовка для спектрального анализа
      Пробоподготовка для спектрального анализа
    • Испытательные машины
      Испытательные машины
    • Твердомеры
      Твердомеры
    • Металлография
      Металлография
    • Расходные материалы для пробоподготовки
      Расходные материалы для пробоподготовки
    Сервис
    • Обслуживание оборудования
      Обслуживание оборудования
    Демозал
    Наши клиенты
    • Промышленность
    Бренды
    Контакты
      +7 (495) 640-19-71
      +7 (495) 640-91-83
      +7 (495) 741-59-04
      E-mail
      zakaz@synercon.ru

      Адрес
      Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
      Режим работы
      Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
      0
      Синеркон
      Телефоны
      +7 (495) 640-19-71
      +7 (495) 640-91-83
      +7 (495) 741-59-04
      E-mail
      zakaz@synercon.ru

      Адрес
      Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
      Режим работы
      Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
      0
      Синеркон
      • О компании
        • О компании
        • О компании
        • История
        • Новости
        • Реквизиты
      • Оборудование
        • Оборудование
        • Портативные РФА анализаторы
        • Оптико-эмиссионные спектрометры
        • Рентгенофлуоресцентные спектрометры
        • Напольные рентгеновские спектрометры
        • Рентгеновские дифрактометры
        • Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
        • Рентгеновские толщиномеры покрытий
        • Элементный анализ CS/ONH
        • Оптические микроскопы
        • Электронные микроскопы
        • Пробоподготовка для спектрального анализа
        • Испытательные машины
        • Твердомеры
        • Металлография
        • Расходные материалы для пробоподготовки
      • Сервис
        • Сервис
        • Обслуживание оборудования
          • Обслуживание оборудования
          • Пусконаладочные работы
          • Обучение после внедрения оборудования
      • Демозал
      • Наши клиенты
        • Наши клиенты
        • Промышленность
      • Бренды
      • Контакты
      • 0 Сравнение
      • +7 (495) 640-19-71
        • Телефоны
        • +7 (495) 640-19-71
        • +7 (495) 640-91-83
        • +7 (495) 741-59-04
      • Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
      • zakaz@synercon.ru

      • Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00

      Интерметаллиды в силумине АК12П: что показывает настольный СЭМ LANSEM 30, а оптика — нет

      Главная
      —
      Статьи
      —
      Электронная микроскопия
      Применение оборудования
      ФХМА
      Микроскопия
      Анализ металлов и сплавов
      Физико-механические испытания
      Российские ГОСТы и нормы
      Международные стандарты и нормы
      —Интерметаллиды в силумине АК12П: что показывает настольный СЭМ LANSEM 30, а оптика — нет
      Интерметаллиды в силумине АК12П: что показывает настольный СЭМ LANSEM 30, а оптика — нет
      Электронная микроскопия
      28 октября 2026
      В литейном производстве механические свойства отливки определяются не только химическим составом плавки, но и тем, какие фазы образовались при кристаллизации и как они распределены.

      Задача

      В литейном производстве механические свойства отливки определяются не только химическим составом плавки, но и тем, какие фазы образовались при кристаллизации и как они распределены. Одно и то же содержание железа или меди в паспорте плавки может давать и безопасные мелкие включения, и крупные хрупкие кристаллы, с которых начинаются трещины.

      Мы взяли образец алюминиевого сплава АК12П и поставили задачу: определить природу интерметаллидных включений в его структуре и сопоставить результаты элементного анализа с теоретическими составами известных фаз. Исследование выполнено на настольном сканирующем электронном микроскопе LANSEM 30 с EDS-приставкой.

      Что за сплав: АК12П

      АК12П относится к литейным силуминам — сплавам системы алюминий–кремний (ГОСТ 1583-93). Содержание кремния около 10–13 % приближает его к эвтектическому составу (эвтектика Al–Si — около 12,6 % Si), поэтому сплав хорошо заполняет форму, мало усаживается и не склонен к горячим трещинам.

      Химический состав образца из паспорта плавки (мас. %, основа — алюминий):

      Элемент Мас. % ГОСТ 1583-93 Роль в сплаве
      Si 10,49 10–13 жидкотекучесть, малая усадка
      Cu 0,50 до 0,6 прочность
      Fe 0,40 до 0,7 вредная примесь, хрупкие фазы
      Mn 0,34 до 0,50 нейтрализует вред железа
      Zn 0,13 до 0,3 примесь
      Mg 0,03 до 0,10 упрочнение (Mg₂Si)
      Ni 0,08 — жаропрочность
      Ti 0,07 до 0,10 измельчение зерна
      Zr 0,005 до 0,10 измельчение зерна

      По составу плавка укладывается в требования стандарта (для примесей в ГОСТ, как правило, указан верхний предел). Но состав — это лишь «рецепт». Что получилось в готовой структуре, показывает только микроскопия.

      Где применяется

      Силумины типа АК12 — «рабочая лошадка» фасонного литья: корпуса приборов, насосов и редукторов, тонкостенные и сложные по геометрии детали, элементы двигателей и арматуры. Для таких изделий важны герметичность, стабильность размеров и отсутствие хрупких включений, поэтому контроль структуры входит в технологическую культуру производства.

      Почему одной оптики недостаточно

      Металлографический микроскоп — незаменимый первый шаг: он показывает зёренную структуру, эвтектику и общий характер включений. Но у него есть пределы:

      • Нет химической информации. На оптическом снимке (см. фото структуры из протокола, шкала 30 мкм) разные фазы выглядят как серые участки близкой яркости. Отличить железистую фазу от медной по виду нельзя.
      • Ограниченное разрешение и глубина резкости. Тонкие ветви эвтектики и мелкие включения сливаются, а рельеф травлёного шлифа мешает фокусировке.
      • Результат зависит от травления и оператора. Контраст создаётся реактивом, а не свойствами самой фазы.

      Рис. 1. Микроструктура образца сплава АК12П (шкала 30 мкм).

      Сканирующий электронный микроскоп решает эти задачи: в режиме обратно-рассеянных электронов (BSE) контраст определяется средним атомным номером — тяжёлые фазы светлее лёгких, а EDS-анализ в выбранной точке сразу даёт элементный состав. Вместо вопроса «что это за включение?» вы получаете ответ в течение минуты.

      Как проводили исследование

      • Микроскоп: настольный СЭМ LANSEM 30, ускоряющее напряжение 15 кВ, детектор BSD (обратно-рассеянные электроны).
      • Увеличения 1000–2000×, поле зрения от 170 до 340 мкм.
      • EDS-анализ: точечный, время набора спектра 60 с, автоматическая идентификация элементов (алгоритм AutoElementID), безэталонная количественная оценка.
      • Выбор места съёмки: с помощью встроенных навигационной и обзорной камер: на экране сразу видно положение держателя, образца и камеры, что экономит время при смене образцов.

      Образец сплава АК12П

      Рис. 2. Образец сплава АК12П

       

      Расположение образца сплава АК12П в микроскопе LANSEM 30

      Рис. 3. Расположение образца сплава АК12П в микроскопе LANSEM 30: навигационная камера, обзорная камера, изображение с детектора BSE

      Результаты

      1. Светлая «иероглифическая» фаза — железосодержащий интерметаллид

      На BSE-изображении видны яркие разветвлённые включения скелетной формы, напоминающие китайские иероглифы. Две независимые точки на этой фазе дали практически одинаковый результат:

      • точка 1: Al 58,25 %, Fe 32,89 %, Si 8,87 %;
      • точка 2: Al 59,19 %, Fe 32,05 %, Si 8,76 %.

       

      Железистая фаза: изображение, спектр и состав в точке 1

      Рис. 4. Железистая фаза: изображение, спектр и состав в точке 1.

      Железистая фаза: изображение, спектр и состав в точке 2

      Рис. 5. Железистая фаза: изображение, спектр и состав в точке 2.

      На спектре помимо линий Al, Si и Fe заметен малый пик марганца (около 5,9 кэВ), который в количественную таблицу не вошёл. Теоретический состав фазы α-Al₈Fe₂Si: Al 60,7 %, Fe 31,4 %, Si 7,9 %. Совпадение в пределах 1–2,5 % по каждому элементу, причём по железу и кремнию отклонение минимальное. Для сравнения, β-фаза Al₅FeSi (игольчатая, наиболее опасная) содержала бы около 25,5 % Fe и почти 13 % Si — такого мы не видим. Скелетная морфология и состав вместе указывают на α-фазу типа Al(Fe,Mn)Si. Это хорошая новость: в присутствии марганца (0,34 % в паспорте) вредное железо связывается в компактную скелетную α-фазу вместо хрупких игл β-фазы.

      2. Светлые частицы с медью — фаза θ (Al₂Cu)

      В точке на яркой треугольной частице получено: Cu 55,14 %, Al 43,68 %, Si 1,18 %. Теоретический состав Al₂Cu: Cu 54,1 %, Al 45,9 %. Отклонение около 1–2 %, небольшое количество кремния — вклад окружающей матрицы. Это классическая упрочняющая фаза алюминий–медь, концентрирующаяся в междендритных областях.

      Медная фаза Al₂Cu: изображение, спектр и состав

      Рис. 6. Медная фаза Al₂Cu: изображение, спектр и состав.

      3. Кремниевая составляющая эвтектики

      Точка на участке эвтектики дала Si 78,40 % и Al 21,60 %. Теоретически кристалл кремния — 100 % Si. Алюминий в спектре — это сигнал окружающей α-матрицы: при 15 кВ область генерации рентгеновского излучения составляет несколько микрометров, а кремниевые кристаллы эвтектики сопоставимы или меньше по размеру. Важный методический момент: при анализе мелких фаз нужно учитывать размер области возбуждения.

      Кремниевая составляющая эвтектики: изображение, спектр и состав

      Рис. 7. Кремниевая составляющая эвтектики: изображение, спектр и состав.

      4. Фаза Al–Cu–Ni: никель «нашёл» свою фазу

      Интереснее всего оказалась яркая частица на втором поле: Cu 38,71 %, Al 31,24 %, Ni 26,79 %, Si 1,87 %, Mn 1,39 %. В паспорте никеля всего 0,08 %, но в структуре он не растворяется равномерно, а собирается в отдельной фазе вместе с медью. По составу это Al–Cu–Ni-интерметаллид типа Al₃(Ni,Cu)₂ или Al₇Cu₄Ni. Для Al₃CuNi теория даёт Al ≈ 40 %, Cu ≈ 31 %, Ni ≈ 29 %; мы получили сопоставимое содержание никеля и больше меди при меньшем алюминии. Точное стехиометрическое отнесение требует дополнительных точек и анализа по сечению частицы, но качественный вывод однозначен: это жаропрочная Cu–Ni-содержащая фаза, а Mn и Si, вероятно, пришли из соседних участков.

      Al–Cu–Ni-фаза: изображение, спектр и состав

      Рис. 8. Al–Cu–Ni-фаза: изображение, спектр и состав.

      Сводная таблица

      Фаза Измерено, % Теория, %
      α-Al₈Fe₂Si (точки 1 и 2) Al 58,3–59,2; Fe 32,1–32,9; Si 8,8–8,9 Al 60,7; Fe 31,4; Si 7,9
      θ-Al₂Cu Cu 55,1; Al 43,7; Si 1,2 Cu 54,1; Al 45,9
      Кремний эвтектики Si 78,4; Al 21,6 (вклад матрицы) Si 100
      Al–Cu–Ni фаза Cu 38,7; Al 31,2; Ni 26,8 Al₃(Ni,Cu)₂ / Al₇Cu₄Ni

      Выводы

      1. В структуре АК12П выявлены четыре типа включений: железистая α-фаза Al(Fe,Mn)Si, медная фаза Al₂Cu, кремний эвтектики и Al–Cu–Ni-интерметаллид.
      2. Измеренные составы согласуются с теоретическими в пределах нескольких процентов — для безэталонного EDS на настольном приборе это отличный результат.
      3. Оптическая металлография не способна различить эти фазы: по паспорту плавка «в норме», а структура показывает, куда на самом деле ушли железо, медь и никель.
      4. На одном приборе и за один сеанс получены морфология, качественный и количественный состав включений.

      Настольный СЭМ для завода: почему это удобно

      • Результат в день пробы. От шлифа до идентификации фазы — минуты, а не дни ожидания внешней лаборатории.
      • Компактность. Прибор ставится в лаборатории ОТК без отдельной подготовки помещения, как правило, достаточно обычной розетки.
      • Простота работы. Интерфейс с обзорной камерой, автоопределением элементов и готовыми методиками осваивается лаборантом без многолетней подготовки.
      • Контроль литья и входного сырья. Анализ браков, оценка влияния модификаторов и режимов литья, входной контроль, разбор рекламаций.
      • Экономика. Доступная стоимость владения по сравнению с универсальными лабораторными напольными СЭМ.

      Приглашаем в демонстрационный зал СИНЕРКОН

      Приезжайте со своими образцами: мы вместе отработаем методику контроля структуры ваших сплавов на LANSEM 30, покажем пробоподготовку, EDS-анализ и картирование, а также поможем подобрать оборудование под ваши задачи и бюджет. Оставьте заявку на сайте СИНЕРКОН — мы согласуем удобное время.

      Оборудование
      В демозале
      Настольный СЭМ LANSEM 30
      Настольные сканирующие электронные микроскопы
      Настольный СЭМ LANSEM 30
      Назад к списку
      • Применение оборудования 11
      • ФХМА 7
      • Микроскопия 3
      • Электронная микроскопия 6
      • Анализ металлов и сплавов 18
      • Физико-механические испытания 2
      ИСП-ОЭС ФХМА
      Компания
      О компании
      История
      Новости
      Реквизиты
      Каталог
      Портативные РФА анализаторы
      Оптико-эмиссионные спектрометры
      Рентгенофлуоресцентные спектрометры
      Напольные рентгеновские спектрометры
      Рентгеновские дифрактометры
      Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
      Рентгеновские толщиномеры покрытий
      Элементный анализ CS/ONH
      Оптические микроскопы
      Электронные микроскопы
      Пробоподготовка для спектрального анализа
      Испытательные машины
      Твердомеры
      Металлография
      Расходные материалы для пробоподготовки
      Услуги
      Обслуживание оборудования
      Статьи
      Бренды
      Контакты
      +7 (495) 640-19-71
      +7 (495) 640-19-71
      +7 (495) 640-91-83
      +7 (495) 741-59-04
      E-mail
      zakaz@synercon.ru

      Адрес
      Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
      Режим работы
      Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
      zakaz@synercon.ru

      Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
      © 2026 Синеркон: Качество под контролем.
      Политика обработки персональных данных ООО «Синеркон»
      Согласие на обработку персональных данных