Микроскоп Leica DM3 XL предназначен для контроля качества в области микроэлектроники, в том числе кремниевых пластин. Простой и надежный инструмент для быстрого инспектирования полупроводниковых образцов. Максимальное поле зрения 35.7 мм. Большой ход механического столика обеспечивает размещение образцов диаметром до 150 мм. Дополнительный режим косого освещения позволяет более детально изучить топографию вашего образца. Цветовое кодирование апертурной диафрагмы помогает пользователю работать с наиболее оптимальными настройками для выбранного объектива.

ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ:

Увеличение: от 7 крат до 3000 крат

Режим работы: отраженный и проходящий свет

Методы контрастирования: светлое поле, темное поле, поляризация, дифференциально-интерференционный контраст, косое освещение

Ход предметного столика по XY: 150х150 мм

Ход фокусировки по Z: 25 мм;

Источник освещения: Светодиодный белый