+7 (495) 640-19-71 Заказать звонок
По будням с 9:00 до 18:00
Обратная связь
Прямой исследовательский микроскоп NIKON ECLIPSE L200N, L200ND
Оптические микроскопы/Прямые микроскопы
Узнать цену
Инспекционные микроскопы Nikon Eclips – высокоточный контроль качества в микроэлектронике, сочетает передовую оптику, модульную конструкцию и автоматизацию, обеспечивая надежность и точность в задачах промышленного контроля.
Узнать цену
Технические характеристики
  • Диапазон увеличений:
    25х - 1000х
  • Кратность объективов:
    2,5х / 4х / 5х / 10х / 20х / 40х / 50х / 60х / 100х
  • Тип освещения:
    отраженный и проходящий свет
  • Методы контрастирования:
    светлое поле, темное поле, поляризационный контраст, дифференциально интерференционный контраст (DIC)
  • Турель для объективов:
    6 – позиционная
  • Высокоточный коаксиальный механизм:
    грубой и точной фокусировки
Описание

Микроскопы Nikon L200N и L200ND созданы для точного анализа интегральных схем, полупроводниковых пластин и фотошаблонов с диаметром до 200 мм. Благодаря передовым оптическим технологиям и продуманному дизайну, эти модели обеспечивают превосходное качество изображения и эффективность в задачах контроля качества.

Оптическая система CFI60 LU/L обеспечивает изображение с улучшенной контрастностью, разрешением и яркостью в режиме тёмного поля (в 3 раза ярче предыдущих версий).

Моторизованный шестипозиционный револьвер с центровкой объективов, управление диафрагмами и возможность интеграции с загрузчиками пластин (NWL200) позволяют создать полностью автоматизированную систему.

Для обеспечения гибкости освещения используются галогенные лампы мощностью 100 и 150 Вт, а также ксеноновый источник мощностью 75 Вт.

Управление расположено на передней панели, также доступно дистанционное управление. Ручной предметный стол размером 140x120 мм дает диапазон перемещения 354 x 302 мм, (диапазон диаскопических наблюдений: 354 x 268 мм) дает возможность грубого и точного перемещения, а также контроль перемещения по оси X-Y (с фиксированным положением).


Область применения: материаловедение, горная промышленность и геология, микроэлектроника, судебная экспертиза, криминалистика, медицина и биология, анализ ювелирных изделий.

Модификации

  • Модель L200N предназначена для исследований в отраженном свете с поддержкой методов: светлое/темное поле, дифференциально-интерференционный контраст (ДИК), поляризационный анализ. За счет компактной конструкции подходит для работы с пластинами до 200 мм.

  • Модель L200ND дает расширенные возможности за счет проходящего света. Отличается поддержкой диаскопического освещения (проходящий свет), что позволяет проводить анализ прозрачных образцов (фотошаблоны, подложки), комбинировать методы отраженного и проходящего света. Объективы с линзой Френеля дают увеличенное рабочее расстояние при уменьшенных габаритах и весе. За счет механизма стола с прецизионным перемещением по осям XY и фокусировкой одной рукой управление микроскопом становится более удобным. А антистатическое покрытие защищает образцы от загрязнений.

  • Модель L300 отличается увеличенным предметным столиком, который позволяет работать с пластинами большего размера. 

 

 
Микроскоп может быть оснащён цифровой видеокамерой, что позволяет делать высококачественные снимки для последующего анализа готовых образцов, а для быстрой и качественной подготовки металлографических шлифов рекомендуется использовать оборудование для пробоподготовки.

Все микроскопы, представленные на нашем сайте, оснащены цифровой видеокамерой и программным обеспечением «SYNERCON» внесенное в Единый реестр российских программ и предназначено для измерения геометрических размеров структур различных материалов.


Задать вопрос