Размер шрифта
Цвет фона и шрифта
Изображения
Озвучивание текста
Обычная версия сайта
Синеркон
Качество под контролем
+7 (495) 640-19-71
+7 (495) 640-19-71
+7 (495) 640-91-83
+7 (495) 741-59-04
Заказать звонок
E-mail
zakaz@synercon.ru
Адрес
Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
Режим работы
Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
Отправить запрос
О компании
О компании
История
Новости
Реквизиты
Оборудование
Портативные РФА анализаторы
Оптико-эмиссионные спектрометры
Рентгенофлуоресцентные спектрометры
Напольные рентгеновские спектрометры
Рентгеновские дифрактометры
Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
Рентгеновские толщиномеры покрытий
Элементный анализ CS/ONH
Оптические микроскопы
Электронные микроскопы
Пробоподготовка для спектрального анализа
Испытательные машины
Твердомеры
Металлография
Расходные материалы для пробоподготовки
Сервис
Обслуживание оборудования
Пусконаладочные работы
Обучение после внедрения оборудования
Демозал
Наши клиенты
Промышленность
Бренды
Контакты
0
+7 (495) 640-19-71
+7 (495) 640-19-71
+7 (495) 640-91-83
+7 (495) 741-59-04
Заказать звонок
E-mail
zakaz@synercon.ru
Адрес
Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
Режим работы
Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
Заказать звонок
0
Сравнение
Отправить запрос
О компании
О компании
История
Новости
Реквизиты
Оборудование
Посетите демонстрационный зал в Москве
Портативные РФА анализаторы
Оптико-эмиссионные спектрометры
Рентгенофлуоресцентные спектрометры
Напольные рентгеновские спектрометры
Рентгеновские дифрактометры
Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
Рентгеновские толщиномеры покрытий
Элементный анализ CS/ONH
Оптические микроскопы
Электронные микроскопы
Пробоподготовка для спектрального анализа
Испытательные машины
Твердомеры
Металлография
Расходные материалы для пробоподготовки
Сервис
Обслуживание оборудования
Демозал
Наши клиенты
Промышленность
Бренды
Контакты
О компании
О компании
История
Новости
Реквизиты
Оборудование
Посетите демонстрационный зал в Москве
Портативные РФА анализаторы
Оптико-эмиссионные спектрометры
Рентгенофлуоресцентные спектрометры
Напольные рентгеновские спектрометры
Рентгеновские дифрактометры
Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
Рентгеновские толщиномеры покрытий
Элементный анализ CS/ONH
Оптические микроскопы
Электронные микроскопы
Пробоподготовка для спектрального анализа
Испытательные машины
Твердомеры
Металлография
Расходные материалы для пробоподготовки
Сервис
Обслуживание оборудования
Демозал
Наши клиенты
Промышленность
Бренды
Контакты
+7 (495) 640-19-71
+7 (495) 640-91-83
+7 (495) 741-59-04
Заказать звонок
E-mail
zakaz@synercon.ru
Адрес
Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
Режим работы
Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
0
Отправить запрос
Телефоны
+7 (495) 640-19-71
+7 (495) 640-91-83
+7 (495) 741-59-04
Заказать звонок
E-mail
zakaz@synercon.ru
Адрес
Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
Режим работы
Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
0
О компании
О компании
О компании
История
Новости
Реквизиты
Оборудование
Оборудование
Портативные РФА анализаторы
Оптико-эмиссионные спектрометры
Рентгенофлуоресцентные спектрометры
Напольные рентгеновские спектрометры
Рентгеновские дифрактометры
Спектрометры с индуктивно-связанной плазмой
Рентгеновские толщиномеры покрытий
Элементный анализ CS/ONH
Оптические микроскопы
Электронные микроскопы
Пробоподготовка для спектрального анализа
Испытательные машины
Твердомеры
Металлография
Расходные материалы для пробоподготовки
Сервис
Сервис
Обслуживание оборудования
Обслуживание оборудования
Пусконаладочные работы
Обучение после внедрения оборудования
Демозал
Наши клиенты
Наши клиенты
Промышленность
Бренды
Контакты
Отправить запрос
0
Сравнение
+7 (495) 640-19-71
Телефоны
+7 (495) 640-19-71
+7 (495) 640-91-83
+7 (495) 741-59-04
Заказать звонок
Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
zakaz@synercon.ru
Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
Статьи
Главная
—
Статьи
За все время
2026
2025
2024
2023
2021
2020
2019
ФХМА
24 апреля 2026
Фильтры в ЭД-РФА, зачем они нужны и как влияют на результат
ФХМА
22 апреля 2026
Схема работы ЭД-РФА спектрометра SynFerro и SynGeo
ФХМА
21 апреля 2026
Энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный анализ
Электронная микроскопия
13 апреля 2026
Компактный СЭМ с ЭДС для контроля качества печатных плат (ПКП/PCB)
Электронная микроскопия
10 апреля 2026
Как СЭМ помогает выявлять дефекты и загрязнения в лекарственных формах
ФХМА
3 апреля 2026
Анализ объектов металлического аддитивного производства методом ИСП-ОЭС
ФХМА
2 апреля 2026
Анализ рапы методом ИСП-ОЭС
Электронная микроскопия
31 марта 2026
Контроль керамических материалов методами растровой электронной микроскопии
Электронная микроскопия
31 марта 2026
Сканирующая электронная микроскопия в целлюлозно-бумажной промышленности
ФХМА
23 марта 2026
Фундаментальные принципы метода Метод ИСП-ОЭС (ICP-OES)
ФХМА
19 марта 2026
Метод ИСП-ОЭС (ICP-OES)
Применение оборудования
11
ФХМА
7
Микроскопия
3
Электронная микроскопия
4
Анализ металлов и сплавов
18
ИСП-ОЭС
ФХМА