Электронные микроскопы
В одном настольном приборе объединены технологии подготовки образцов для ПЭМ, РЭМ и СМ-анализа, чем не может похвастаться никакой другой прибор.
Устройство для тримминга образцов для просвечивающей и сканирующей электронной микроскопии.
Высококачественный ультрамикротом для получения срезов при комнатной температуре или при глубокой заморозке.
Настольный сканирующий электронный микроскоп LANSEM подходит для наблюдения образцов при больших увеличениях, исследования морфологии поверхности во вторичных и обратно рассеянных (отраженных) электронах. Доступен режим низкого вакуума для исследования не токопроводящих образцов. Микроскоп оснащён ЭДС детектором и позволяет проводить качественный и количественный элементный анализ.
Настольный сканирующий электронный микроскоп Cube II подходит для анализа образцов с высоким увеличением и разрешением, а также осуществлять сбор данных об их элементном составе.
Идеально подходит для исследований в области технологии наноструктур. Помимо визуализации топографии поверхности способен определять различные свойства образца в нанометровом масштабе, выполнять функцию наноманипулятора, проводить нанолитографию.
EM 8100 – сканирующий электронный микроскоп полевой эмиссии (СЭМ) с катодом Шоттки, позволяющий получать СЭМ-изображения высокого разрешения и проводить анализ элементного состава в реальном времени.
- 1
- 2