Настольные сканирующие электронные микроскопы
Настольный сканирующий электронный микроскоп LANSEM подходит для наблюдения образцов при больших увеличениях, исследования морфологии поверхности во вторичных и обратно рассеянных (отраженных) электронах. Доступен режим низкого вакуума для исследования не токопроводящих образцов. Микроскоп оснащён ЭДС детектором и позволяет проводить качественный и количественный элементный анализ.
Настольный сканирующий электронный микроскоп Cube II подходит для анализа образцов с высоким увеличением и разрешением, а также осуществлять сбор данных об их элементном составе.
Микроскоп электронный сканирующий Hitachi TM4000 Plus.