Размер шрифта
Цвет фона и шрифта
Изображения
Озвучивание текста
Обычная версия сайта
Синеркон
Синеркон
Качество под контролем
+7 (495) 640-19-71
+7 (495) 640-19-71
+7 (495) 640-91-83
+7 (495) 741-59-04
E-mail
info@synercon.ru

Адрес
Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
Режим работы
Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
О компании
  • О компании
  • История
  • Новости
  • Реквизиты
Оборудование
  • Портативные РФА анализаторы
  • Оптико-эмиссионные спектрометры
    • Стационарные оптико-эмиссионные спектрометры
    • Мобильные оптико-эмиссионные спектрометры
  • Рентгенофлуоресцентные спектрометры
  • Рентгеновские дифрактометры
    • Дифрактометры
  • Cпектрометры с индуктивно-связанной плазмой
  • Рентгеновские толщиномеры покрытий
  • Элементный анализ CS/ONH
  • Оптические микроскопы
    • Прямые микроскопы
    • Инвертированные микроскопы
    • Стереомикроскопы
    • Цифровые микроскопы
    • Конфокальные микроскопы
    • Криминалистические микроскопы
    • Программное обеспечение автоматизированного анализа
  • Измерительные микроскопы
    • Универсальные измерительные микроскопы
    • Видеоизмерительные микроскопы
    • Портативные микроскопы
    • Фильерные инспекционные микроскопы
  • Электронные микроскопы
    • Настольные сканирующие электронные микроскопы
    • Пробоподготовка для электронной микроскопии
    • Атомно-силовой микроскоп BRISK
    • Сканирующие электронные микроскопы KYKY
  • Пробоподготовка для спектрального анализа
  • Испытательные машины
    • Электромеханические испытательные машины
    • Гидравлические испытательные машины
    • Сервогидравлические испытательные машины
    • Маятниковые копры
    • Экстензометры
    • Машины для испытаний эластомеров
    • Высокочастотные резонансные испытательные машины
    • Машины для испытания пружин
    • Оснастка
  • Твердомеры
    • Микротвердомеры
    • Универсальные твердомеры
    • Твердомеры Роквелла
    • Твердомеры для крупногабаритных образцов
    • Система определения механических свойств
    • Микротвердомеры UHL
  • Металлография
    • Отрезные станки
    • Шлифовально-полировальные станки
    • Металлографические пресса
    • Оборудование для электролитического полирования и травления
    • Оборудование для петрографии
    • Оборудование для подготовки образцов для спектрального анализа
  • Расходные материалы для пробоподготовки
    • Резка
    • Запрессовка
    • Шлифование
    • Полировка
    • Системы фиксации
Сервис
  • Обслуживание оборудования
    • Пусконаладочные работы
  • Обучение и поддержка
    • Обучение после внедрения оборудования
Демозал
Наши клиенты
  • Промышленность
Бренды
Контакты
0
Синеркон
+7 (495) 640-19-71
+7 (495) 640-19-71
+7 (495) 640-91-83
+7 (495) 741-59-04
E-mail
info@synercon.ru

Адрес
Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
Режим работы
Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
0 Сравнение
О компании
  • О компании
  • История
  • Новости
  • Реквизиты
Оборудование
Посетите демонстрационный зал в Москве
Посетите демонстрационный зал в Москве
14 января 2025
Демонстрация оборудования на вашем объекте в реальных условиях
Демонстрация оборудования на вашем объекте в реальных условиях
16 января 2025
  • Портативные РФА анализаторы
    Портативные РФА анализаторы
  • Оптико-эмиссионные спектрометры
    Оптико-эмиссионные спектрометры
    • Стационарные оптико-эмиссионные спектрометры
    • Мобильные оптико-эмиссионные спектрометры
  • Рентгенофлуоресцентные спектрометры
    Рентгенофлуоресцентные спектрометры
  • Рентгеновские дифрактометры
    Рентгеновские дифрактометры
    • Дифрактометры
  • Cпектрометры с индуктивно-связанной плазмой
    Cпектрометры с индуктивно-связанной плазмой
  • Рентгеновские толщиномеры покрытий
    Рентгеновские толщиномеры покрытий
  • Элементный анализ CS/ONH
    Элементный анализ CS/ONH
  • Оптические микроскопы
    Оптические микроскопы
    • Прямые микроскопы
    • Инвертированные микроскопы
    • Стереомикроскопы
    • Цифровые микроскопы
    • Конфокальные микроскопы
    • Криминалистические микроскопы
    • Программное обеспечение автоматизированного анализа
  • Измерительные микроскопы
    Измерительные микроскопы
    • Универсальные измерительные микроскопы
    • Видеоизмерительные микроскопы
    • Портативные микроскопы
    • Фильерные инспекционные микроскопы
  • Электронные микроскопы
    Электронные микроскопы
    • Настольные сканирующие электронные микроскопы
    • Пробоподготовка для электронной микроскопии
    • Атомно-силовой микроскоп BRISK
    • Сканирующие электронные микроскопы KYKY
  • Пробоподготовка для спектрального анализа
    Пробоподготовка для спектрального анализа
  • Испытательные машины
    Испытательные машины
    • Электромеханические испытательные машины
    • Гидравлические испытательные машины
    • Сервогидравлические испытательные машины
    • Маятниковые копры
    • Экстензометры
    • Машины для испытаний эластомеров
    • Высокочастотные резонансные испытательные машины
    • Машины для испытания пружин
    • Оснастка
  • Твердомеры
    Твердомеры
    • Микротвердомеры
    • Универсальные твердомеры
    • Твердомеры Роквелла
    • Твердомеры для крупногабаритных образцов
    • Система определения механических свойств
    • Микротвердомеры UHL
  • Металлография
    Металлография
    • Отрезные станки
    • Шлифовально-полировальные станки
    • Металлографические пресса
    • Оборудование для электролитического полирования и травления
    • Оборудование для петрографии
    • Оборудование для подготовки образцов для спектрального анализа
  • Расходные материалы для пробоподготовки
    Расходные материалы для пробоподготовки
    • Резка
    • Запрессовка
    • Шлифование
    • Полировка
    • Системы фиксации
Сервис
  • Обслуживание оборудования
    Обслуживание оборудования
    • Пусконаладочные работы
  • Обучение и поддержка
    Обучение и поддержка
    • Обучение после внедрения оборудования
Демозал
Наши клиенты
  • Промышленность
Бренды
Контакты
    Синеркон
    О компании
    • О компании
    • История
    • Новости
    • Реквизиты
    Оборудование
    Посетите демонстрационный зал в Москве
    Посетите демонстрационный зал в Москве
    14 января 2025
    Демонстрация оборудования на вашем объекте в реальных условиях
    Демонстрация оборудования на вашем объекте в реальных условиях
    16 января 2025
    • Портативные РФА анализаторы
      Портативные РФА анализаторы
    • Оптико-эмиссионные спектрометры
      Оптико-эмиссионные спектрометры
      • Стационарные оптико-эмиссионные спектрометры
      • Мобильные оптико-эмиссионные спектрометры
    • Рентгенофлуоресцентные спектрометры
      Рентгенофлуоресцентные спектрометры
    • Рентгеновские дифрактометры
      Рентгеновские дифрактометры
      • Дифрактометры
    • Cпектрометры с индуктивно-связанной плазмой
      Cпектрометры с индуктивно-связанной плазмой
    • Рентгеновские толщиномеры покрытий
      Рентгеновские толщиномеры покрытий
    • Элементный анализ CS/ONH
      Элементный анализ CS/ONH
    • Оптические микроскопы
      Оптические микроскопы
      • Прямые микроскопы
      • Инвертированные микроскопы
      • Стереомикроскопы
      • Цифровые микроскопы
      • Конфокальные микроскопы
      • Криминалистические микроскопы
      • Программное обеспечение автоматизированного анализа
    • Измерительные микроскопы
      Измерительные микроскопы
      • Универсальные измерительные микроскопы
      • Видеоизмерительные микроскопы
      • Портативные микроскопы
      • Фильерные инспекционные микроскопы
    • Электронные микроскопы
      Электронные микроскопы
      • Настольные сканирующие электронные микроскопы
      • Пробоподготовка для электронной микроскопии
      • Атомно-силовой микроскоп BRISK
      • Сканирующие электронные микроскопы KYKY
    • Пробоподготовка для спектрального анализа
      Пробоподготовка для спектрального анализа
    • Испытательные машины
      Испытательные машины
      • Электромеханические испытательные машины
      • Гидравлические испытательные машины
      • Сервогидравлические испытательные машины
      • Маятниковые копры
      • Экстензометры
      • Машины для испытаний эластомеров
      • Высокочастотные резонансные испытательные машины
      • Машины для испытания пружин
      • Оснастка
    • Твердомеры
      Твердомеры
      • Микротвердомеры
      • Универсальные твердомеры
      • Твердомеры Роквелла
      • Твердомеры для крупногабаритных образцов
      • Система определения механических свойств
      • Микротвердомеры UHL
    • Металлография
      Металлография
      • Отрезные станки
      • Шлифовально-полировальные станки
      • Металлографические пресса
      • Оборудование для электролитического полирования и травления
      • Оборудование для петрографии
      • Оборудование для подготовки образцов для спектрального анализа
    • Расходные материалы для пробоподготовки
      Расходные материалы для пробоподготовки
      • Резка
      • Запрессовка
      • Шлифование
      • Полировка
      • Системы фиксации
    Сервис
    • Обслуживание оборудования
      Обслуживание оборудования
      • Пусконаладочные работы
    • Обучение и поддержка
      Обучение и поддержка
      • Обучение после внедрения оборудования
    Демозал
    Наши клиенты
    • Промышленность
    Бренды
    Контакты
      +7 (495) 640-19-71
      +7 (495) 640-91-83
      +7 (495) 741-59-04
      E-mail
      info@synercon.ru

      Адрес
      Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
      Режим работы
      Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
      0
      Синеркон
      Телефоны
      +7 (495) 640-19-71
      +7 (495) 640-91-83
      +7 (495) 741-59-04
      E-mail
      info@synercon.ru

      Адрес
      Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
      Режим работы
      Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
      0
      Синеркон
      • О компании
        • О компании
        • О компании
        • История
        • Новости
        • Реквизиты
      • Оборудование
        • Оборудование
        • Портативные РФА анализаторы
        • Оптико-эмиссионные спектрометры
          • Оптико-эмиссионные спектрометры
          • Стационарные оптико-эмиссионные спектрометры
          • Мобильные оптико-эмиссионные спектрометры
        • Рентгенофлуоресцентные спектрометры
        • Рентгеновские дифрактометры
          • Рентгеновские дифрактометры
          • Дифрактометры
        • Cпектрометры с индуктивно-связанной плазмой
        • Рентгеновские толщиномеры покрытий
        • Элементный анализ CS/ONH
        • Оптические микроскопы
          • Оптические микроскопы
          • Прямые микроскопы
          • Инвертированные микроскопы
          • Стереомикроскопы
          • Цифровые микроскопы
          • Конфокальные микроскопы
          • Криминалистические микроскопы
          • Программное обеспечение автоматизированного анализа
        • Измерительные микроскопы
          • Измерительные микроскопы
          • Универсальные измерительные микроскопы
          • Видеоизмерительные микроскопы
          • Портативные микроскопы
          • Фильерные инспекционные микроскопы
        • Электронные микроскопы
          • Электронные микроскопы
          • Настольные сканирующие электронные микроскопы
          • Пробоподготовка для электронной микроскопии
          • Атомно-силовой микроскоп BRISK
          • Сканирующие электронные микроскопы KYKY
        • Пробоподготовка для спектрального анализа
        • Испытательные машины
          • Испытательные машины
          • Электромеханические испытательные машины
          • Гидравлические испытательные машины
          • Сервогидравлические испытательные машины
          • Маятниковые копры
          • Экстензометры
          • Машины для испытаний эластомеров
          • Высокочастотные резонансные испытательные машины
          • Машины для испытания пружин
          • Оснастка
        • Твердомеры
          • Твердомеры
          • Микротвердомеры
          • Универсальные твердомеры
          • Твердомеры Роквелла
          • Твердомеры для крупногабаритных образцов
          • Система определения механических свойств
          • Микротвердомеры UHL
        • Металлография
          • Металлография
          • Отрезные станки
          • Шлифовально-полировальные станки
          • Металлографические пресса
          • Оборудование для электролитического полирования и травления
          • Оборудование для петрографии
          • Оборудование для подготовки образцов для спектрального анализа
        • Расходные материалы для пробоподготовки
          • Расходные материалы для пробоподготовки
          • Резка
          • Запрессовка
          • Шлифование
          • Полировка
          • Системы фиксации
      • Сервис
        • Сервис
        • Обслуживание оборудования
          • Обслуживание оборудования
          • Пусконаладочные работы
        • Обучение и поддержка
          • Обучение и поддержка
          • Обучение после внедрения оборудования
      • Демозал
      • Наши клиенты
        • Наши клиенты
        • Промышленность
      • Бренды
      • Контакты
      • 0 Сравнение
      • +7 (495) 640-19-71
        • Телефоны
        • +7 (495) 640-19-71
        • +7 (495) 640-91-83
        • +7 (495) 741-59-04
      • Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
      • info@synercon.ru

      • Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00

      Cпектрометры с индуктивно-связанной плазмой

      2
      Главная
      —
      Оборудование
      —
      Cпектрометры с индуктивно-связанной плазмой
      Портативные РФА анализаторы
      Оптико-эмиссионные спектрометры
      Рентгенофлуоресцентные спектрометры
      Рентгеновские дифрактометры
      Рентгеновские толщиномеры покрытий
      Элементный анализ CS/ONH
      Оптические микроскопы
      Измерительные микроскопы
      Электронные микроскопы
      Пробоподготовка для спектрального анализа
      Испытательные машины
      Твердомеры
      Металлография
      Расходные материалы для пробоподготовки
      Фильтр
      По популярности (возрастание)
      По наименованию (А-Я)
      По наименованию (Я-А)
      По популярности (возрастание)
      По популярности (убывание)
      Фильтр
      Оптико-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой SynOptic 550 Оптико-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой SynOptic 550
      Cпектрометры с индуктивно-связанной плазмой
      Оптико-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой SynOptic 550
      SynOptic 550 — отличается высокой надёжностью и точностью, что делает его идеальным инструментом для рутинного анализа сложных проб.
      Оптико-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой SynOptic 550 Pro Оптико-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой SynOptic 550 Pro
      Cпектрометры с индуктивно-связанной плазмой
      Оптико-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой SynOptic 550 Pro
      SynOptic 550 Pro – это современный оптико-эмиссионный спектрометр. Модель с CID детектором идеально подходит для проб с большим разбросом концентраций элементов в образце и проведения высокопрецизионных измерений в исследовательских и промышленных лабораториях.

      Атомно-эмиссионная спектрометрия c ИСП – это спектральный метод анализа, основанный на измерении электромагнитного излучения, испускаемого термически возбужденными атомами в плазменном источнике.

      Образец подвергается воздействию высоких температур, вызывающих процессы испарения вещества, диссоциации молекул на атомы, ионизации и возбуждения атомов.

      При возбуждении атома или иона валентные электроны переходят с основного уровня на уровни с более высокой энергией. При обратном переходе валентного электрона на нижний энергетический уровень происходит испускание электромагнитного излучения (эмиссия) определенной длины волны (λ) в соответствии с соотношением:

      ΔE=hc/λ, где

      ΔE – разница в энергиях двух энергетических уровней, Дж; h – постоянная Планка (6,626 · 10-34 Дж · с);

      с – скорость света (299 792 458 м/с).

       Ein Bild, das sitzend, klein, fliegend, Luft enthält. Automatisch generierte Beschreibung  Рис. 2.jpg    Рис. 3.jpg

      Зависимость интенсивности испускаемого электромагнитного излучения от длины волны называется эмиссионным спектром.

      Зависимость интенсивности испускаемого электромагнитного излучения от длины волны называется эмиссионным спектром. Число линий в эмиссионном спектре элемента определяется числом валентных электронов и числом разрешенных межуровневых переходов. Спектры атомов с малым числом валентных электронов (щелочные, щелочно-земельные металлы) имеют мало линий. Атомы со сложно построенными внешними оболочками (особенно элементы побочных подгрупп периодической системы) дают спектры с большим числом линий. Линии, соответствующие переходам на основной энергетический уровень, называют резонансными. В эмиссионном спектре резонансные линии наблюдаются в видимой и ультрафиолетовой областях. Интенсивность (I) линии эмиссионного спектра элемента прямо пропорциональна числу возбужденных атомов или однозарядных ионов (N*).

      У каждого элемента — свой набор «переходов». Внутри атома электроны располагаются по чётко определённым энергетическим уровням. Спектр каждого элемента индивидуален как отпечатки пальцев.

      Возбуждение атомов происходит в плазме.

      Температура плазмы — 6000–10 000 К. Для образования плазмы используется магнитное поле, индукцированное медной катушкой, через которую пропускают высокочастотный переменный ток. По закону фарадея, это магнитное поле индуцирует вихревое электрическое поле в пространстве внутри катушки (в газе). Электрическое поле ускоряет электроны, т.е. ионизируют газ (обычно Ar).

      Плазма имеет несколько температурных зон. В центре факела плазма максимально горячая. А по краям и ближе к хвосту холодные зоны. От того, в какой части факела проводятся наблюдения сигнала зависит чувствительность измерений.

      Двойной обзор плазмы.

      Радиальный режим смотрит поперек факела (через боковую сторону).

      Свет проходит через более "тонкий" слой плазмы. Чем меньше путь через горячую зону, тем слабее сигнал, но стабильнее.

      Аксиальный режим смотрит вдоль оси факела (вдоль всей длины горячей зоны).

      Свет собирается с большей длины плазмы, где сигнал максимальный. Повышается чувствительность, но и увеличивается шум, влияние примесей, загрязнение.

      Комбинация двух режимов в одном методе позволяет совместить преимущества и устранить недостатки обоих режимов.

      Оптическая схема

      Свет, который испускают атомы - это "яркое пятно", которое необходимо разложить в набор строго определённых длин волн, чтобы понять, какие элементы есть в пробе.

      Дифракционная решётка + призма: они разлагают свет на узкие участки по длине волны. Первый этап (призма): луч от источника через щель → коллиматор → призма. Призма начинает разделение по вертикальной оси (например, фиолет выше, красный ниже). Второй этап – решётка. Когда свет проходит через дифракционную решётку, он раскладывается в спектр — в радугу. Эта радуга повторяется много раз, как копии — только в разных направлениях и с разной интенсивностью. Каждая такая "копия" называется порядком спектра.

      Отражающее зеркало фокусируют двумерное поле на CCD.

      Детекторы

      Полученный спектр проецируется на детектор, который превращает световые сигналы в электрические импульсы.

      Детектор измеряет интенсивность света на каждой длине волны: чем выше интенсивность, тем больше концентрация элемента в пробе.

      Виды детекторов

      Тип

      Преимущества

      Недостатки

      CCD (Charge-Coupled Device)

      ✔ Высокая чувствительность

      ✔ Широкий спектральный диапазон

      ✔ Одновременный анализ многих линий

      ❌ Чувствителен к перегреву и перенасыщению

      CID (Charge Injection Device)

      ✔ Более устойчивая к перегрузке

      ✔ Возможность адресного считывания

      ✔ Высокая стойкость к радиации

      ❌ Немного уступает CCD по чувствительности

      ФЭУ 

      (Фотонно-электронный умножитель)

      ✔ Очень высокая чувствительность

      ✔ Быстрый отклик  

      ❌ Устаревшая технология

      ❌ Монохромный — только по одной длине волны

      Что выбрать?

      CCD — идеальный выбор для большинства задач: от рутинного контроля до научных исследований.

      CID — хорош, когда важна надёжность и устойчивость к внешним факторам.

      ФЭУ — в современных приборах почти не используется, уступив место матричным детекторам.

      И напоследок про системы ввода и камеры распыления.

      Образование аэрозоля — это ключевой этап, от которого зависит точность анализа. Всё начинается в распылителе (небулайзере), куда поступает жидкий образец и газ-носитель - аргон.

      Аргон под давлением подаётся на распылитель, создавая мощный поток газа.

      Жидкий образец подаётся через капилляр прямо в область быстрого газового потока.

      На выходе из распылителя поток аргона срывает жидкость с капилляра и разбивает её на капли различного размера. Этот процесс напоминает аэрозольный баллончик — только на микроуровне.

      Возникает аэрозольный факел, состоящий из:

      очень мелких капель (1–10 мкм) — они подходят для анализа;

      более крупных капель (20 мкм и выше) — они отфильтровываются в камере распыления.


      Типы распылителей и их особенности

      Тип

      Особенности

      Преимущества

      Коаксиальный (concentric)   

      Наиболее распространён

      ✔ Хорошее качество аэрозоля

      ✔ Совместим с большинством проб

      V-образный (V-groove)

      Подходит для растворов с частицами

      ✔ Менее чувствителен к засорению

      Распылитель с перекрестным потоком 

      (Cross-flow)

      Газ и жидкость подаются 

      под прямым углом

      ✔ Простота конструкции

      ✔ Стабильная работа с солевыми матрицами

      Ультразвуковой (ultrasonic)    

      Использует вибрации, а не газ

      ✔ Очень мелкий аэрозоль

      ✔ Повышенная чувствительность

      Микропоточный (microflow)

      Для низкого расхода пробы

      ✔ Минимальный объём раствора

      ✔ Экономия реагентов

      Камера распыления

      Камера распыления отфильтровывает крупные капли, чтобы в плазму поступали только самые мелкие — для стабильного и точного анализа.

      Каталог
      • Портативные РФА анализаторы
      • Оптико-эмиссионные спектрометры
        • Стационарные оптико-эмиссионные спектрометры
        • Мобильные оптико-эмиссионные спектрометры
      • Рентгенофлуоресцентные спектрометры
      • Рентгеновские дифрактометры
        • Дифрактометры
      • Cпектрометры с индуктивно-связанной плазмой
      • Рентгеновские толщиномеры покрытий
      • Элементный анализ CS/ONH
      • Оптические микроскопы
        • Прямые микроскопы
        • Инвертированные микроскопы
        • Стереомикроскопы
        • Цифровые микроскопы
        • Конфокальные микроскопы
        • Криминалистические микроскопы
        • Программное обеспечение автоматизированного анализа
      • Измерительные микроскопы
        • Универсальные измерительные микроскопы
        • Видеоизмерительные микроскопы
        • Портативные микроскопы
        • Фильерные инспекционные микроскопы
      • Электронные микроскопы
        • Настольные сканирующие электронные микроскопы
        • Пробоподготовка для электронной микроскопии
        • Атомно-силовой микроскоп BRISK
        • Сканирующие электронные микроскопы KYKY
      • Пробоподготовка для спектрального анализа
      • Испытательные машины
        • Электромеханические испытательные машины
        • Гидравлические испытательные машины
        • Сервогидравлические испытательные машины
        • Маятниковые копры
        • Экстензометры
        • Машины для испытаний эластомеров
        • Высокочастотные резонансные испытательные машины
        • Машины для испытания пружин
        • Оснастка
      • Твердомеры
        • Микротвердомеры
        • Универсальные твердомеры
        • Твердомеры Роквелла
        • Твердомеры для крупногабаритных образцов
        • Система определения механических свойств
        • Микротвердомеры UHL
      • Металлография
        • Отрезные станки
        • Шлифовально-полировальные станки
        • Металлографические пресса
        • Оборудование для электролитического полирования и травления
        • Оборудование для петрографии
        • Оборудование для подготовки образцов для спектрального анализа
      • Расходные материалы для пробоподготовки
        • Резка
        • Запрессовка
        • Шлифование
        • Полировка
        • Системы фиксации
      Компания «СИНЕРКОН» уже более 18 лет занимает лидирующие позиции на рынке аналитического и измерительного оборудования в России и странах СНГ.
      Компания
      О компании
      История
      Новости
      Реквизиты
      Каталог
      Портативные РФА анализаторы
      Оптико-эмиссионные спектрометры
      Рентгенофлуоресцентные спектрометры
      Рентгеновские дифрактометры
      Cпектрометры с индуктивно-связанной плазмой
      Рентгеновские толщиномеры покрытий
      Элементный анализ CS/ONH
      Оптические микроскопы
      Измерительные микроскопы
      Электронные микроскопы
      Пробоподготовка для спектрального анализа
      Испытательные машины
      Твердомеры
      Металлография
      Расходные материалы для пробоподготовки
      Услуги
      Обслуживание оборудования
      Обучение и поддержка
      Статьи
      Бренды
      Контакты
      +7 (495) 640-19-71
      +7 (495) 640-19-71
      +7 (495) 640-91-83
      +7 (495) 741-59-04
      E-mail
      info@synercon.ru

      Адрес
      Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
      Режим работы
      Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00
      info@synercon.ru

      Москва, Варшавское шоссе, д. 118, корп. 1
      © 2026 Синеркон: Качество под контролем.
      Политика конфиденциальности